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专利号: 2020104346413
申请人: 盐城工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2025-06-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种忆阻器仿真模型,其特征在于,包括忆阻器等效电阻R1、受控电压源V1至V3、电阻R2至R6、电容C、第一运放和第二运放;

忆阻器等效电阻R1的一端与受控电压源V1的正极相连;

受控电压源V2的负极接地,受控电压源V2的正极与电阻R2的一端相连,电阻R2的另一端分别于第一运放的反相输入端、电容C的一端相连,电容C的另一端与第一运放的输出端相连,第一运放的正相输入端接地;

受控电压源V3的负极接地,受控电压源V3的正极与电阻R3的一端相连,电阻R3的另一端分别于第二运放的反相输入端、电阻R4的一端相连,电阻R4的另一端与第二运放的输出端相连,第二运放的正相输入端分别与电阻R5、电阻R6的一端相连,电阻R6的另一端接地;

受控电压源V1的电压值为(RON-ROFF)x(t)i(t),其中:RON为忆阻器低阻值状态下的低阻值电阻,ROFF为忆阻器高阻值状态下的高阻值电阻,w(t)为t时刻掺杂区的宽度,D为忆阻器长度,i(t)为t时刻流经忆阻器的电流;

受控电压源V2的电压值为i(t),其中i(t)为t时刻流经忆阻器的电流;

受控电压源V3的电压值为kq(t),其中:RON为忆阻器低阻值状态下的低阻值电阻,μV为忆阻器中的载流子的迁移率,D为忆阻器长度,q(t)为t时刻流经忆阻器的累计电荷量;

忆阻器边界迁移模型描述为:

v(t)=(ROFF+(RON-ROFF)x(t))i(t),x(t)∈[0,1]x(t)=X0+∫i(t)dt,x(t)∈[0,1],X0∈[0,1]其中为掺杂区初始宽度W0占忆阻器长度D的比例。

2.如权利要求1所述的一种忆阻器仿真模型,其特征在于,第二运放的正电源端接1V电压,负电源端接0V。