1.一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于，包括：

台面（100），所述台面（100）的上方转动连接有芯片转盘（700），所述芯片转盘（700）的上方活动连接有具有检测芯片作用的芯片检测器（600），所述芯片转盘（700）的下方通过转动轴转动连接有电机（800）；

所述芯片转盘（700）的表面开设有多个芯片槽（904），每个所述芯片槽（904）的内部滑动连接有抬升板（903），每个所述抬升板（903）的底部与芯片槽（904）之间固定连接有弹簧（902），每个所述抬升板（903）的底部固定连接有滑杆（901），每个所述滑杆（901）通过芯片转盘（700）内部开设的滑槽与所述芯片转盘（700）滑动连接，所述台面（100）的前侧底部固定连接有电动伸缩杆（905），所述电动伸缩杆（905）的伸缩杆外侧固定连接有固定环（906），所述固定环（906）的上方活动连接有推块一（907），所述推块一（907）的上方滑动连接有液压块一（908），所述液压块一（908）通过传动件与抽风口（912）滑动连接，所述液压块一（908）通过固定架（913）与台面（100）固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述传动件包括软管一（909）、液压块二（910）、推块二（911），所述软管一（909）的一端与所述液压块一（908）的侧面固定连接，所述软管一（909）的另一端与所述液压块二（910）固定连接，所述液压块二（910）的底部滑动连接有推块二（911），所述推块二（911）的底部固定连接有抽风口（912）。

3.根据权利要求1所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述台面（100）的后侧活动连接有进料设备（200），所述台面（100）的右侧活动连接有出料设备（300），所述进料设备（200）的上方活动连接有进料拾取设备（400），所述出料设备（300）的上方活动连接有出料拾取设备（500）。

4.根据权利要求2所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述芯片槽（904）的数量为十二个，每个所述芯片槽（904）关于所述芯片转盘（700）的圆心圆周分布，所述抬升板（903）的数量为十二个，每个所述抬升板（903）关于所述芯片转盘（700）的圆心圆周分布，所述抽风口（912）底部的开槽大小与所述芯片槽（904）的大小一致，所述抽风口（912）的前侧固定连接有抽风器开关组件（1000）。

5.根据权利要求4所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述抽风器开关组件（1000）包括开关盒（1001）、圆形开关（1002）、转轴一（1003）、齿轮一（1004）、齿条一（1005）、液压块三（1006）、软管二（1007）、废料管（1008）、负压抽风器（1009），所述抽风口（912）的前侧固定连接有所述废料管（1008），所述废料管（1008）的中间外侧固定连接有负压抽风器（1009），所述负压抽风器（1009）的顶部固定连接有开关盒（1001），所述开关盒（1001）内部通过转轴一（1003）与所述圆形开关（1002）转动连接，所述转轴一（1003）的前侧固定连接有齿轮一（1004），所述负压抽风器（1009）的顶部固定连接有液压块三（1006），所述液压块三（1006）的右侧滑动连接有齿条一（1005），所述齿条一（1005）与所述齿轮一（1004）啮合，所述液压块三（1006）的顶部与所述软管二（1007）的一端固定连接，所述软管二（1007）的另一端与所述液压块二（910）的外侧固定连接，所述废料管（1008）的底部活动连接有废料搅动组件（1100）。

6.根据权利要求5所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述废料管（1008）的内径大小大于所述芯片槽（904）的大小，所述齿条一（1005）通过所述负压抽风器（1009）表面开设的滑槽与所述负压抽风器（1009）滑动连接。

7.根据权利要求5所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述软管二（1007）的内部与所述液压块三（1006）的内部相通，所述软管二（1007）的内部与所述液压块二（910）的内部相通。

8.根据权利要求5所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述废料搅动组件（1100）包括软管三（1101）、液压块四（1102）、齿条二（1103）、齿轮二（1104）、转轴二（1105）、搅动板（1106）、废料盒（1107）、废料出口（1108），所述软管三（1101）的一端与所述液压块一（908）的外侧固定连接，所述软管三（1101）的另一端与所述液压块四（1102）的左侧固定连接，所述液压块四（1102）的右侧滑动连接有齿条二（1103），所述废料管（1008）的底部固定连接有废料出口（1108），所述废料出口（1108）的下方设置有废料盒（1107），所述废料盒（1107）的底部转动连接有转轴二（1105），所述转轴二（1105）的顶部固定连接有搅动板（1106），所述搅动板（1106）与所述转轴二（1105）的底部之间固定连接有齿轮二（1104），所述齿轮二（1104）与齿条二（1103）啮合，所述液压块四（1102）的底部与废料盒（1107）固定连接。

9.根据权利要求8所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述搅动板（1106）的长度小于所述废料盒（1107）的宽度，所述废料出口（1108）的底面圆心与所述转轴二（1105）的圆心同轴。

10.根据权利要求8所述的一种晶元芯片生产用自动检测装置，其特征在于：所述软管三（1101）的内部与所述液压块四（1102）的内部相通，所述软管三（1101）的内部与所述液压块一（908）的内部相通。