1.一种基于二维S变换取脊方法的三维面形垂直测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、标定测量系统以建立条纹图的调制度和高度的映射关系；

S2、获取光栅扫描被测物体时，光栅的像投影在被测物体表面上的条纹图；

S3、利用二维S变换取脊方法获得各条纹图所对应的调制度信息；

S4、获取各条纹图中同名像素点的调制度最大值，根据所述的映射关系，查找调制度最大值对应的高度值，从而重建被测物体的三维面形。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述二维S变换取脊方法对条纹进行处理时，针对不同局部条纹采用不同尺寸的窗口进行分析且窗口大小受到待分析局部条纹瞬时频率两个方向的控制，由此获得对应的条纹调制度值的分布。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，鉴于信号h(x,y)的二维S变换公式表示为以及鉴于光栅成像面前后的模糊像在(u,v)位置处的表达式：在所述的二维S变换取脊方法中，将模糊像在(u,v)位置处条纹的近似表达式代入二维S变换公式获得采集的条纹图对应的二维S变换系数公式：其中

因为fu>0，且fv>0，|S(u,v,fu,fv；δ)|取最大值时，即为二维S变换在位置(u,v)处的脊，进而得到由于

因此，S0(u,v,fu,fv；δ)≈0，S2(u,v,fu,fv；δ)≈0,进而，在条纹图位置(u,v)处对应的二维S变换系数公式中的调制度近似为|S(u,v,fu,fv；δ)|＝|S0+S1+S2|＝|S0|+|S1|+|S2|≈|S1|即，位置(u,v)处的调制度值 为

当计算遍历条纹每个像素点时，即可获得该幅条纹图的调制度信息：