1.一种基于π相移方法的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：S1、基于能够完成π相移的光栅结构，标定测量系统以建立条纹图的调制度和高度的映射关系；

S2、获取光栅扫描被测物体时，光栅的像投影在被测物体表面上的条纹图；

S3、利用π相移方法提取所述条纹图所对应的调制度信息；

S4、获取各条纹图中同名像素点的调制度最大值，根据所述映射关系，查找调制度最大值对应的高度值，从而得到被测物体的三维面形。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述光栅结构是指将两幅具有π相位差的条纹图同时编码在一个物理光栅上，即若采用横条纹编码方式，则在纵向存在π个相位差或者若采用纵条纹编码方式，则在横向存在π个相位差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

假设系统横向放大率为M，物体表面反射率为R(x,y)，具有π相位差两幅图片的正弦光栅在像平面上各像素点(x,y)的光强分布即条纹图的表达式分别表示为：其中I0为背景光强，C0(x,y)为光栅成像面上的条纹对比度，f0是像平面的光栅频率，Φ0(x,y)为初始相位；

由余弦函数和复指数函数之间的转换关系，即

则式(1)、式(2)分别简化为：

利用π相移方法获得所述条纹图所对应的调制度信息具体包括如下步骤：根据成像理论，光栅成像面前后的模糊像I′1(x,y；δ)、I′2(x,y；δ)由其聚焦像I1(x,y)、I2(x,y)和相应的系统模糊方程即系统的点扩散函数h(x,y；δ)的卷积得到，即I′1(x,y；δ)＝h(x,y；δ)*I1(x,y)  (6)I′2(x,y；δ)＝h(x,y；δ)*I2(x,y)  (7)符号*表示卷积,I′1(x,y；δ)、I′2(x,y；δ)均为距成像面δ位置处的光强分布；模糊方程h(x,y；δ)采用二维高斯函数表示，即式中σh是扩散常数；

将式(4)和(8)代入(6)或将式(5)和(8)代入(7))获得投影像面前后的光强分布为

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将式(9)和式(10)作差并取其平均数即可除去背景光强部分的信息，即将上式(11)作傅里叶变换运算，取基频部分并作逆傅里叶变换即得到该位置处的调制度分布其中，M0(x,y)表示光栅成像面上的调制度分布。