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专利号: 2017112061692
申请人: 德淮半导体有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 磨削;抛光
更新日期:2024-04-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种晶圆加工装置,其特征在于,包括:

支撑台,所述支撑台包括支撑面,所述支撑台中具有冷却剂,所述冷却剂为过饱和溶液,所述过饱和溶液内溶质的溶解度随温度升高而增加,且所述过饱和溶液内溶质溶解时吸收热量;

位于所述支撑面表面的研磨垫;

安装晶圆并带动晶圆与所述研磨垫相互摩擦的研磨头。

2.如权利要求1所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述过饱和溶液内溶质的材料为硝酸钾、硝酸铵或氯化铵。

3.如权利要求1所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述支撑台中具有冷却腔;

所述冷却剂位于所述冷却腔中。

4.如权利要求3所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述冷却腔为封闭的腔体;

或者,所述晶圆加工装置还包括:与所述冷却腔连通的进水设备和抽水设备,所述进水设备向所述冷却腔中通入冷却剂,所述抽水设备抽出所述冷却腔中的冷却剂。

5.如权利要求3所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述冷却腔为冷却管道;

或者所述冷却腔为柱体,所述冷却腔的中心轴与所述支撑台的中心轴重合。

6.如权利要求3所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述冷却腔的体积为2L~3L;所述冷却腔沿垂直于所述支撑面方向上的尺寸大于1cm。

7.如权利要求1所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述支撑台中具有容纳腔,所述容纳腔中具有冷却容器;所述冷却剂位于所述冷却容器中。

8.如权利要求7所述的晶圆加工装置,其特征在于,所述冷却容器为封闭容器。

9.一种晶圆加工方法,其特征在于,包括:

提供如权利要求1至权利要求8任意一项所述的晶圆加工装置;

提供晶圆,所述晶圆包括相对的处理面和背面;

将所述晶圆安装于所述研磨头,使所述晶圆背面与所述研磨头贴合;

将所述晶圆安装于所述研磨头之后,使研磨垫对晶圆处理面进行第一研磨处理。

10.如权利要求9所述的晶圆加工方法,其特征在于,所述第一研磨处理之后,还包括:更换所述冷却剂;更换所述冷却剂之后,使研磨垫对所述晶圆进行第二研磨处理;

所述支撑台中具有冷却腔,所述冷却剂位于所述冷却腔中;所述晶圆加工装置还包括:与所述冷却腔连通的进水设备和抽水设备,所述进水设备用于向所述冷却腔中通入冷却剂,所述抽水设备用于抽出所述冷却腔中的冷却剂;

更换所述冷却剂的步骤包括:提供待更换冷却剂;通过所述抽水设备抽出所述支撑台中的冷却剂;抽出所述支撑台中的冷却剂之后,通过所述进水设备向所述支撑台中通入所述待更换冷却剂。