1.一种半导体夹具，其特征在于，包括：

主体，包括底座板(1)，所述底座板(1)的外表面固定连接有侧架板(11)，所述底座板(1)的上表面固定连接有检测机(12)；

测试机构，包括滑动板(2)，所述滑动板(2)与侧架板(11)的内表面活动连接，所述滑动板(2)的外表面固定连接有夹固板(21)，所述侧架板(11)的外表面固定连接有限位板(22)，所述夹固板(21)的外表面活动连接有限位滑板(23)，所述限位滑板(23)的外表面固定连接有测试板(24)，所述侧架板(11)的外表面固定连接有底架板(25)，所述侧架板(11)的上表面固定连接有轴承架(26)，所述轴承架(26)的内表面活动连接有控制杆(27)，所述控制杆(27)的外表面活动连接有连接臂(28)，所述连接臂(28)远离控制杆(27)的一端固定连接有固定板(29)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体夹具，其特征在于：所述滑动板(2)远离夹固板(21)的一端固定连接有对正机构，所述对正机构包括受抵板(3)，所述侧架板(11)的外表面固定连接有限位架(31)，所述限位架(31)的内表面活动连接有紧固螺栓(32)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体夹具，其特征在于：所述侧架板(11)呈两组，两组所述侧架板(11)位于底座板(1)的两侧位置，两组所述侧架板(11)的上端开设有孔洞，所述滑动板(2)与侧架板(11)的孔洞部分滑动连接，所述夹固板(21)位于两组侧架板(11)相对的一侧位置。

4.根据权利要求3所述的一种半导体夹具，其特征在于：所述限位板(22)呈四组，一组所述限位板(22)的上端设置有两组限位板(22)，且限位板(22)位于两组侧架板(11)相对的一侧两端位置，所述测试板(24)两两一组组成一个测试单元，所述限位滑板(23)设置在测试单元的两侧位置，所述限位滑板(23)的上端设置有滑孔，所述夹固板(21)与限位滑板(23)的滑孔部分滑动连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体夹具，其特征在于：测试单元呈多组设置，位于两侧的测试单元相对一侧的测试板(24)上设置有测试针，位于中间位置的测试单元上的测试板(24)均设置有测试针，位于最外侧且远离连接臂(28)的一组测试单元上的测试板(24)与底架板(25)的上表面固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种半导体夹具，其特征在于：所述底架板(25)的上端均匀开设有多组通槽，所述轴承架(26)呈两组，两组所述轴承架(26)的两端与两组侧架板(11)的上表面固定连接，所述轴承架(26)与控制杆(27)之间轴承连接，所述控制杆(27)位于两组轴承架(26)之间的部分设置有螺纹，所述连接臂(28)通过螺纹与控制杆(27)活动连接，所述固定板(29)固定连接在最靠近连接臂(28)的一组测试板(24)的外表面。

7.根据权利要求2所述的一种半导体夹具，其特征在于：所述限位架(31)位于侧架板(11)上与受抵板(3)相同的一侧位置，所述限位架(31)的上端设置有螺纹孔，所述紧固螺栓(32)与螺纹孔部分活动连接，所述紧固螺栓(32)与受抵板(3)的外表面抵合连接。