1.一种半导体测试过程用工夹具，包括基座(1)，其特征在于，所述基座(1)的顶部固定连接有对称设置的两个安装板(2)，两个所述安装板(2)内均设有安装腔，所述安装腔内设有螺纹杆(3)，所述螺纹杆(3)的两端均与安装腔的内壁转动连接，所述螺纹杆(3)上固定套接有第一齿轮(4)，所述第一齿轮(4)上设有相啮合的第二齿轮(5)，所述第二齿轮(5)远离第一齿轮(4)的一端固定连接有转杆(6)，所述转杆(6)远离第二齿轮(5)的一端贯穿安装腔的内壁并固定连接有转块(7)，所述转块(7)上滑动插设有卡杆(8)，所述安装板(2)上设有与卡杆(8)对应的多个卡槽，所述卡杆(8)靠近安装板(2)的一端固定套接有固定套(9)，所述卡杆(8)远离固定套(9)的一端固定连接有安装块(10)，所述螺纹杆(3)上螺纹套接有移动板(11)，所述移动板(11)的一侧固定连接有对称设置的两个推杆(12)，所述安装板(2)的一侧设有挤压板(13)，两个所述推杆(12)远离移动板(11)的一端均贯穿安装腔的内壁并与挤压板(13)固定连接，所述挤压板(13)远离推杆(12)的一侧设有凹槽，所述凹槽内设有缓冲板(14)，所述缓冲板(14)与凹槽内壁之间通过多个第一弹簧(15)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试过程用工夹具，其特征在于：所述安装板(2)的内壁上设有对称设置的两个滑槽，两个所述滑槽内均固定连接有滑杆(16)，所述移动板(11)的两端均滑动套接在滑杆(16)上。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试过程用工夹具，其特征在于：所述卡杆(8)上套设有第二弹簧(17)，所述第二弹簧(17)的两端分别与固定套(9)和转块(7)相抵。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试过程用工夹具，其特征在于：所述转块(7)上设有多道齿纹，多道所述齿纹均为倾斜设置。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试过程用工夹具，其特征在于：两个所述推杆(12)相背的一侧均设有伸缩杆(18)，所述伸缩杆(18)的两端分别与挤压板(13)和安装板(2)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试过程用工夹具，其特征在于：所述安装板(2)上设有通孔，所述通孔内壁上固定连接有耐磨环，所述转杆(6)穿过耐磨环内。