1.一种便于更换的芯片测试装置，包括适配板(1)；

安装板(2)，所述安装板(2)与适配板(1)活动连接，所述适配板(1)的上端面开设有放置槽(12)，所述放置槽(12)的内部设有探针(13)，其特征在于：所述适配板(1)内开设有空槽(14)；

所述空槽(14)的内部设有固定柱(16)，所述固定柱(16)安装于探针(13)下方的一侧，所述固定柱(16)上活动连接有压板(3)，所述压板(3)呈斜面放置于空槽(14)内。

2.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的外端突出于空槽(14)，所述压板(3)位于空槽(14)内部的一端固定安装有凸块(31)。

3.根据权利要求2所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的外端下方固定安装有第一弹性件。

4.根据权利要求2所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述探针(13)的下端固定安装有第二弹性件。

5.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述安装板(2)上开设有凸板(22)，所述凸板(22)与放置槽(12)相互对应。

6.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的材质均设为非导电性材质。