1.一种芯片外观不良分拣方法，其特征在于，在芯片传送带的纵向方向的中心位置设置分割线；所述分割线两侧分别为外观不良芯片所在传送区域和外观良好芯片所在传送区域；并且，外观良好芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的推送装置；所述外观不良芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的反推装置，所述分拣方法包括：

检测识别外观不良的芯片，并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码，同时，对打上不良外观标定识别码的次数进行计数；

在芯片传输过程中实时扫描每个芯片，确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码；

当检测到所述芯片存在不良外观标定识别码时，控制推送装置将带有不良外观标定识别码的芯片推至所述芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域，并对所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数；

控制所述反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，在复合检测无误后，在所述外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片尽进行分拣。

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置对所述推送次数进行计数时，判断所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数是否保持一致；

如果所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数不一致，则根据所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数之间的数量关系进行问题排除处理。

3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，根据所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数之间的数量关系进行问题排除处理，包括：如果所述第一个推送装置的推送计数次数小于打上不良外观标定识别码的次数计数，则获取当前推送计数次数与打上不良外观标定识别码的次数计数之间的差值，并根据所述差值进行重复识别推送处理；

如果所述第一个推送装置的推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数，则标记所述第一个推送装置的推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数时所推送的芯片，并控制所述反推装置将当前推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数对应的被对送至外观不良芯片所在传送区域的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域，并对所述第一个推送装置的推送计数次数进行减一处理。

4.根据权利要求3所述方法，其特征在于，根据所述差值进行重复识别推送处理，包括：控制所述第一个推送装置将所述差值发送至后续传送带传输发方向上的所有推送装置；

在后续所述推送装置接收到所述差值之后，所述第一个推送装置立即按照所述差值将当前推送计数次数补齐至与所述打上不良外观标定识别码的次数计数相同的次数；

后续推送装置对所述芯片进行重复扫描识别，并将识别到的带有不良外观标定识别码的芯片进行补充推送，并推送至外观不良芯片所在传送区域，同时记录补充推送次数；

当后续推送装置的总补充推送次数与所述差值相同时，停止所有后续推送装置运行；

根据所述差值进行重复识别推送处理，还包括：所述反推装置对所述后续推送装置补充推送的芯片进行实时扫描识别；

如果所述反推装置识别到所述后续推送装置补充推送的芯片不存在不良外观标定识别码，则对所述不存在不良外观标定识别码的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域；并将补充推送错误信息发送至后续提送装置中的最后三个推送装置；

所述后续推送装置中的最后三个推送装置在接收到一次补充错误信息，对当前补充推送次数进行一次减一处理，获得复核芯片数量，并按照复核芯片数量进行芯片的重新复核识别和补充推送；并且，除所述最后三个推送装置之外的其他后续推送装置在完成当前补充推送至所述差值对应数量时，停止推送运行。

5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，控制所述反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，包括：控制所述反推装置实时监测外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行不良外观标定识别码的复核识别；

如果识别到未标记有不良外观标定识别码的芯片在外观不良芯片所在传送区域内，则将在外观不良芯片所在传送区域内的未标记有不良外观标定识别码的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域；并将当前反推次数发送至除所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置之外的后续推送装置上；

所述后续推送装置根据反推装置发送的反推次数重新对芯片传送带上的芯片进行不良外观标定识别码的识别，并将识别到的带有不良外观标定识别码的芯片推送至外观不良芯片所在传送区域。

6.一种芯片外观不良分拣系统，其特征在于，在芯片传送带的纵向方向的中心位置设置分割线；所述分割线两侧分别为外观不良芯片所在传送区域和外观良好芯片所在传送区域；并且，外观良好芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的推送装置；所述外观不良芯片所在传送区域一侧设有多个沿芯片传送带设置的反推装置，所述分拣系统包括：

不良检测模块，用于检测识别外观不良的芯片，并对所述外观不良芯片上打上不良外观标定识别码，同时，对打上不良外观标定识别码的次数进行计数；

扫描模块，用于在芯片传输过程中实时扫描每个芯片，确定所述芯片上是否存在不良外观标定识别码；

推送控制模块，用于当检测到所述芯片存在不良外观标定识别码时，控制推送装置将带有不良外观标定识别码的芯片推至所述芯片传送带的外观不良芯片所在传送区域，并对所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置的推送次数进行计数；

反推及分拣控制模块，用于控制所述反推装置对外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行复核检测，在复合检测无误后，在所述外观不良芯片所在传送区域将带有所述芯片存在不良外观标定识别码的芯片尽进行分拣。

7.根据权利要求6所述系统，其特征在于，所述系统还包括：计数判断模块，用于在所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置对所述推送次数进行计数时，判断所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数是否保持一致；

排除处理模块，用于如果所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数不一致，则根据所述第一个推送装置的推送计数次数与所述打上不良外观标定识别码的次数计数之间的数量关系进行问题排除处理。

8.根据权利要求7所述系统，其特征在于，所述排除处理模块包括：处理模块一，用于如果所述第一个推送装置的推送计数次数小于打上不良外观标定识别码的次数计数，则获取当前推送计数次数与打上不良外观标定识别码的次数计数之间的差值，并根据所述差值进行重复识别推送处理；

处理模块二，用于如果所述第一个推送装置的推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数，则标记所述第一个推送装置的推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数时所推送的芯片，并控制所述反推装置将当前推送计数次数大于打上不良外观标定识别码的次数计数对应的被对送至外观不良芯片所在传送区域的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域，并对所述第一个推送装置的推送计数次数进行减一处理。

9.根据权利要求8所述系统，其特征在于，所述处理模块一包括：发送模块，用于控制所述第一个推送装置将所述差值发送至后续传送带传输发方向上的所有推送装置；

补齐模块，用于在后续所述推送装置接收到所述差值之后，所述第一个推送装置立即按照所述差值将当前推送计数次数补齐至与所述打上不良外观标定识别码的次数计数相同的次数；

重新识别模块，用于后续推送装置对所述芯片进行重复扫描识别，并将识别到的带有不良外观标定识别码的芯片进行补充推送，并推送至外观不良芯片所在传送区域，同时记录补充推送次数；

停止运行模块，用于当后续推送装置的总补充推送次数与所述差值相同时，停止所有后续推送装置运行；

所述处理模块一还包括：

反推扫描模块，用于所述反推装置对所述后续推送装置补充推送的芯片进行实时扫描识别；

反推控制模块，用于如果所述反推装置识别到所述后续推送装置补充推送的芯片不存在不良外观标定识别码，则对所述不存在不良外观标定识别码的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域；并将补充推送错误信息发送至后续提送装置中的最后三个推送装置；

补充复核模块，用于所述后续推送装置中的最后三个推送装置在接收到一次补充错误信息，对当前补充推送次数进行一次减一处理，获得复核芯片数量，并按照复核芯片数量进行芯片的重新复核识别和补充推送；并且，除所述最后三个推送装置之外的其他后续推送装置在完成当前补充推送至所述差值对应数量时，停止推送运行。

10.根据权利要求6所述系统，其特征在于，所述反推及分拣控制模块包括：实时监测模块，用于控制所述反推装置实时监测外观不良芯片所在传送区域内的芯片进行不良外观标定识别码的复核识别；

信息发送模块，用于如果识别到未标记有不良外观标定识别码的芯片在外观不良芯片所在传送区域内，则将在外观不良芯片所在传送区域内的未标记有不良外观标定识别码的芯片反推至外观良好芯片所在传送区域；并将当前反推次数发送至除所述芯片传送带上运行方向上的第一个推送装置之外的后续推送装置上；

复核推送控制模块，用于所述后续推送装置根据反推装置发送的反推次数重新对芯片传送带上的芯片进行不良外观标定识别码的识别，并将识别到的带有不良外观标定识别码的芯片推送至外观不良芯片所在传送区域。