1.一种新型IC测试装置，其特征在于：包括箱体(100)，所述箱体(100)的内腔固定安装有底座(110)，所述箱体(100)内腔的左右侧壁转动连接有横向螺杆(120)，所述横向螺杆(120)贯穿底座(110)的本体，所述横向螺杆(120)外壁的左右两侧设置有双向螺纹，所述横向螺杆(120)外壁的左右两侧均螺接有横向夹持块(130)，所述箱体(100)内腔的前后侧壁转动连接有纵向螺杆(140)，所述纵向螺杆(140)贯穿底座(110)的本体，所述纵向螺杆(140)外壁的前后两侧设置有双向螺纹，所述纵向螺杆(140)的外壁的前后两侧均螺接有纵向夹持块(150)，所述底座(110)的顶端固定安装有底板(160)，所述底板(160)的顶端均匀安装有探针(170)，所述箱体(100)的后端铰接有顶盖(200)，所述顶盖(200)的内腔固定安装有作用块(210)。

2.根据权利要求1所述的一种新型IC测试装置，其特征在于：所述底座(110)的顶端均匀安装有弹簧(161)，所述弹簧(161)的另一端与底板(160)的底端相连接。

3.根据权利要求1所述的一种新型IC测试装置，其特征在于：所述底座(110)顶部的四角均固定安装有伸缩杆(162)，所述伸缩杆(162)的伸缩端与底板(160)的底端相连接。

4.根据权利要求1所述的一种新型IC测试装置，其特征在于：所述箱体(100)内腔的左右侧壁固定连接有横向导杆(131)，所述横向导杆(131)贯穿底座(110)与两组横向夹持块(130)的本体。

5.根据权利要求1所述的一种新型IC测试装置，其特征在于：所述箱体(100)内腔的前后侧壁固定连接有纵向导杆(151)，所述纵向导杆(151)贯穿底座(110)与两组纵向夹持块(150)的本体。

6.根据权利要求1所述的一种新型IC测试装置，其特征在于：所述横向螺杆(120)的右端贯穿箱体(100)的右侧壁并固定连接有第一把手(121)，所述纵向螺杆(140)的前端贯穿箱体(100)的前侧壁并固定连接有第二把手(141)。