1.一种IC测试装置，其特征在于：包括底板(1)和安装侧板(2)，所述底板(1)上设置有三轴移动装置，所述三轴移动装置上设置有齿轮轴插座(3)，齿轮轴插座(3)具有底座(301)，底座(301)上铰接有插座(302)，插座(302)上螺纹连接有指针(303)，所述齿轮轴插座(3)上活动连接有扇形齿轮轴(4)，所述扇形齿轮轴(4)上套装有磁铁(401)，所述齿轮轴插座(3)的上设置有刻度板(5)；所述安装侧板(2)靠近三轴移动装置的一面设置有IC安装座(201)，背离三轴移动装置的一面设置有接线座(202)，所述接线座(202)与IC安装座(201)电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种IC测试装置，其特征在于：所述三轴移动装置具有第一滑轨(601)，所述第一滑轨(601)上活动连接有第一滑块(602)，所述第一滑块(602)上设置有第二滑轨(603)，所述第二滑轨(603)上活动连接有第二滑块(604)，所述第二滑块(604)上设置有顶升座(605)，所述顶升座(605)上铰接有L形转板(606)，在顶升座(605)上活动连接有升降块(607)，所述第一滑轨(601)、第二滑轨(603)和顶升座(605)上均设置有液压缸(7)。

3.根据权利要求2所述的一种IC测试装置，其特征在于：所述第一滑轨(601)处液压缸(7)的活塞杆与第一滑块(602)固定连接，所述第二滑轨(603)处液压缸(7)的活塞杆与第二滑块(604)固定连接，所述顶升座(605)处液压缸(7)的活塞杆与L形转板(606)的下端水平接触，且L形转板(606)的上端与升降块(607)的底柱接触，所述齿轮轴插座(3)与升降块(607)螺纹连接，所述第一滑轨(601)与底板(1)螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种IC测试装置，其特征在于：所述底板(1)与安装侧板(2)螺纹连接，所述刻度板(5)与齿轮轴插座(3)螺纹连接，所述IC安装座(201)和接线座(202)与安装侧板(2)螺纹连接。