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专利号: 2019111739537
申请人: 北方民族大学
专利类型:发明专利
专利状态:授权未缴费
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-04-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于干涉方式的激光波长测量方法,其特征在于:基于干涉方式的激光波长测量装置实现,所述装置包括:待测激光源,用于发射待测激光束;

分光镜,设置于待测激光源与楔形反光镜之间,用于接收待测激光束,并将待测激光束透射至楔形反光镜,以及反射至透镜;

楔形反光镜,用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜;

透镜,用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束,并将待测激光束透射至光电探测器;

光电探测器,设置于透镜的焦点处,用于接收透镜透射的待测激光束;

处理器,与光电探测器电连接,用于检测光电探测器上产生的干涉现象;

所述楔形反光镜连接有精密位移装置,用于带动楔形反光镜在其水平方向/垂直方向上移动;所述楔形反光镜包括反光面,所述分光镜与楔形反光镜的反光面平行设置;

所述方法包括以下步骤:

步骤S1:将待测激光源、分光镜、透镜、光电探测器以及精密位移装置固定设置在壳体内;

步骤S2:开启待测激光源,移动楔形反光镜的位置,使得楔形反光镜能接收到待测激光束;

步骤S3:控制精密位移装置带动楔形反光镜在水平方向/垂直方向上移动,使得光电探测器上产生相长干涉/相消干涉现象,处理器记录楔形反光镜的位移量X1;

步骤S4:继续控制精密位移装置带动楔形反光镜在水平方向/垂直方向上移动,直到光电探测器上产生下一个相长干涉/相消干涉现象,处理器记录楔形反光镜的位移量X2;

步骤S5:处理器根据楔形反光镜两次水平移动/垂直移动的位移量以及楔形反光镜的反光面与水平方向上的角度、入射至反光面的待测激光束与反光面的角度,计算出待测激光束的波长。