1.一种保偏光纤拍长的测量装置，其特征在于，包括宽谱光源(101)、光纤起偏器(102)、频谱仪(201)和计算机(202)，宽谱光源(101)经过光纤起偏器(102)进入待测高双折射保偏光纤(103)，待测高双折射保偏光纤(103)信号输出端连接有检偏器(104)，待测高双折射保偏光纤(103)和检偏器(104)共同组成了一个马赫曾德干涉仪，马赫曾德干涉仪信号输出端有电光调制器(105)，电光调制器(105)上的光载微波信号经过色散光纤(106)后入射到高速光电探测器(107)上，高速光电探测器(107)将光信号装换成微波信号并通过低噪放(108)放大，低噪放(108)输出端连接微波功分器(109)，微波功分器(109)将一部分微波信号注入到电光调制器(105)中，同时将另一部分微波信号输入频谱仪(201)，频谱仪(201)末端连接计算机(202)。

2.根据权利要求1所述的一种保偏光纤拍长的测量装置，其特征在于，待测高双折射保偏光纤(103)与光纤起偏器(102)采用熔接的方式连接,熔接角度为45°。

3.根据权利要求3所述的一种保偏光纤拍长的测量装置，其特征在于，电光调制器(105)、色散光纤(106)、高速光电探测器(107)、低噪放(108)和微波功分器(109)组成光电振荡器,且光电振荡器环路输入端与马赫曾德干涉仪的输出端相连接。

4.根据权利要求3所述的一种保偏光纤拍长的测量装置，其特征在于，宽谱光源(101)可采用高斯型或矩形光源作为发射光源。