1.一种基于保偏光纤拍长测量装置的测量方法，其特征在于，通过待测高双折射保偏光纤103的模式双折射使得在待测高双折射保偏光纤103中传播的两路光的光程差不一样，而光电振荡器输出的微波信号的中心频率又跟该光程差有关，根据微波信号的中心频率就可以得到待测高双折射保偏光纤103的拍长，宽谱光源经过拍长为Lp的待测高双折射保偏光纤103后，选取合适长度的待测高双折射保偏光纤103使得在待测高双折射保偏光纤103两偏振本振轴上传输的两路光在待测高双折射保偏光纤103末端满足干涉条件而发生干涉，则干涉条纹的输出在频域上可表示为：其中A为干涉仪输出干涉条纹的可见度，Δω为不同干涉仪光程差时输出干涉条纹的频率间隔，为干涉仪的相位漂移，ω0为激光器的中心圆频率。Δω可表示为：Δω＝2πcLp/λ0l    (2)其中c为光速，λ0为宽谱光源101中心波长，l为待测高双折射保偏光纤103的长度。则该干涉仪的自由光谱范围可表示为：干涉的输出光是与波长相关，其电场可表征为：E(t)＝∫E(ω)ejωtdω    (4)则宽谱光源101的光功率谱密度可表示为：T(ω)＝|E(ω)|2    (5)干涉仪输出的干涉条纹经过电光调制器105后，光谱的每个频率分量E(ω)都被调制，并且由光电振荡器环路产生一频率为ξ的微波信号，电光调制器105输出的光场可表示为：E(ω)＝ejωt(1+ejξt+e-jξt)    (6)光电振荡器中使用色散光纤106作为延迟线，该时延线的电场传递函数可表示为：H(ω)＝|H(ω)|e-jφ(ω)    (7)φ(ω)为色散光纤106延迟引入的相位，根据泰勒级数展开，该相位可表示为：式中，τ(ω0)为中心频率为ω0时的群时延，β为色散光纤106的色散，其单位为ps2/km，β可表示为：式中D(ps/km/nm)为色散光纤106的色散系数，λ0为宽谱光源101波长。根据式(5)——(9)可得光电振荡器响应函数为：其中由此可知，光电振荡器输出的微波信号的中心频率可表示为：由此可得待测高双折射保偏光纤103的拍长为：由上式可知，根据光电振荡器输出微波信号的中心频率，宽谱光源101的中心波长，色散光纤106的色散系数和长度以及待测高双折射保偏光纤103的长度就能够得到待测高双折射保偏光纤103的拍长。