1.一种无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：（1）使用滴定的方法绘制缓释曲线并用红外方法确认药物包载；所述缓释曲线即为样品的宏观力学性能变化规律曲线；

（2）使用正电子湮灭寿命谱分析确定缓释0-300 h自由体积的分布及其随时间的变化规律,并确定缓释时间；

（3）使用扫描电镜SEM和原子力显微镜AFM对缓释过程中的样品形貌进行检测，确定缓释过程中的微观形貌变化规律；

（4）使用原子力显微镜AFM的Force Volume模式对样品缓释过程中的微观力学性能进行检测，将步骤（3）得到的微观形貌变化规律与微观力学性能变化规律进行对比、分析、建立两种规律变化相一致的联系；

（5）将步骤（1）得到的样品宏观力学性能变化规律，与步骤（4）得到的微观力学性能变化进行对比、分析，建立两种规律变化相一致的联系；

（6）将样品宏观力学性能变化规律与样品的缓释时间、微观形貌变化规律进行对比、分析，建立相一致的联系；

（7）使用缓释样品宏观力学性能变化来监测样品的缓释行为。

2.根据权利要求1所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法，其特征在于：所述滴定的具体方法为：（1）高锰酸钾氧化法，测试复合微粒在室温环境下的缓释性能，缓释介质为空气，控制环境温度为25℃，湿度为50%；或（2）光度法测定，称取真空冷冻干燥的富马酸二甲酯/交联壳聚糖交联微球，在室温环境，即温度25℃、湿度50%，定期取一定量的微球样品密封于透析袋中，并加入到pH为7的PBS缓冲液中缓释，取1ml缓冲液测定其209nm处的吸光度；

所述红外扫描条件为：扫描波数范围为400～4000 cm-1，扫描次数为32次，扫描分辨率为4 cm-1。

3.根据权利要求1所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法,其特征在于：步骤（2）所述正电子湮灭寿命谱分析具体方法为：采用Kapton膜作为衬底，使用双探头符合装置测量正电子湮没辐射Doppler展宽谱，正电子源强度为3.7×105 Bq，每次测量的计数总数约为106，每条谱线的计数总数为107。

4.根据权利要求1所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法,其特征在于：步骤（3）所述SEM测试需使用离子溅射仪为样品表面进行真空喷金，金纳米颗粒厚度约为10 nm。

5.根据权利要求1所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法,其特征在于：步骤（4）所述原子力显微镜AFM的扫描条件为：扫描密度为64×64,扫描范围为10μm×10μm。

6.权利要求1所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法，在对缓释材料芯材进行无损缓释检测中的应用。

7.根据权利要求6所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法，其特征在于：所述缓释材料为天然多糖基材料。

8.根据权利要求7所述无损检测缓释材料芯材缓释情况的方法，其特征在于：所述天然多糖基材料为甲壳素、壳聚糖及其衍生物、纤维素及其衍生物、海藻酸及其盐或淀粉及变性淀粉。