1.一种访问OTP存储器的方法，包括：

步骤1：定义一系列指令用于操作OTP存储器；

步骤2：上电读取OTP存储器各个区域信息，包括OTP存储器模式信息、OTP存储器接口封闭信息、OTP存储器系统区域封闭信息、OTP存储器用户区域封闭信息以及密钥区域信息；

步骤3：解析所定义的操作OTP存储器的指令，按照解析出的指令驱动访问OTP存储器时序；

步骤4：进入机台工作模式，发送OTP存储器编程密钥指令，解析编程密钥指令，并由OTP时序发生器产生该指令对应的访问OTP存储器接口时序，将密钥数据编程至OTP存储器中，读取密钥信息，对读取出来的密钥信息进行加扰处理；

步骤5：进入正常工作模式，发送OTP存储器编程信息指令，编程芯片序列号，OTP时序发生器产生编程OTP存储器时序，将芯片序列号编程至OTP存储器中对应区域；

步骤6：发送OTP存储器编程信息指令，经过指令译码器对指令译码，并由OTP时序发生器产生编程OTP存储器时序，传送至OTP存储器件，完成编程接口封闭信息和编程系统区域信息。

2.如权利要求1所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述一系列指令包括：OTP存储器睡眠模式、OTP存储器唤醒模式、复位OTP存储器、OTP存储器编程信息、OTP存储器编程密钥、读取OTP存储器以及OTP存储器自测模式。

3.如权利要求1所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述解析所定义的操作OTP存储器的指令包括：定义访问OTP存储器的具体指令；

等待访问OTP存储器指令；

检查OTP存储器指令；以及

判定访问OTP存储器指令是否为有效指令，如果为有效指令则传送至OTP时序发生器。

4.如权利要求3所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述的判定访问OTP存储器指令是否为有效指令，如果为无效指令则终止OTP存储器的访问。

5.如权利要求1所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述OTP时序发生器，用于产生解析出的有效访问OTP存储器指令的具体时序。

6.如权利要求1所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述OTP存储器编程密钥指令或OTP存储器编程信息指令，采用对OTP存储器编程地址的冗余处理及在编程操作中采取对同一个地址的编程操作实施N次脉冲编程的方法，其中N小于等于16。

7.如权利要求6所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述步骤4或者步骤5还包括对OTP存储器编程操作的地址的分配进行冗余处理，所述冗余处理包括：对OTP存储器进行一位数据编程操作时，将该位数据映射到OTP存储器4位物理地址并依次编程，若其中不少于3位地址编程成功，则认为所配置的一位数据编程成功，否则认为该位数据没有编程成功。

8.如权利要求7所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述对OTP存储器4位物理地址中的每一位数据编程操作包括：配置所要编程的地址，编程地址等于提供的初始编程地址；

在初始编程地址位置施加3个编程脉冲电压；

施加完3个编程脉冲电压基础上继续施加1个编程脉冲电压；

编程验证操作；

通过编程验证操作得到的数据判定编程的数据是否为1，其中，OTP存储器编程的数据为“1”，未编程的数据为“0”，若编程数据为“1”，则表示本次对该地址的编程操作成功，继续按照该方法执行下一个地址的编程操作，若编程数据为“0”，执行下一步；

判定是否在该位置加了16次编程脉冲电压，若在指定的该OTP存储器地址位置未达到所加16次编程电压，则继续施加脉冲电压，每施加一次脉冲电压进行编程数据是否为“1”的判定，再判定编程脉冲电压是否编程至16次的循环判定；若在该位置加了16次编程电压还是数据为“0”，则编程失败。

9.如权利要求1所述的访问OTP存储器的方法，其特征在于，所述OTP存储器包括：芯片序列号区域，用于存储芯片序列号；接口封闭区域，用于存储相关接口封闭信息；OTP存储器工作模式：用于存储OTP存储器的操作模式，包括机台工作模式和正常工作模式；系统封闭控制区域，用于存储封闭系统区域的控制信息；用户封闭控制区域，用于存储用户区域的控制信息；系统密钥区域，用于存储密钥信息区域；以及用户区，用于存储用户所要存储的信息。

10.一种实现权利要求1‑9任一项所述的访问OTP存储器方法的装置，包括OTP存储器和访问OTP存储器的装置，其中，所述OTP存储器包括：芯片序列号区域，用于存储芯片序列号；

接口封闭区域，用于存储相关接口封闭信息；OTP存储器工作模式：用于存储OTP存储器的操作模式，包括机台工作模式和正常工作模式；系统封闭控制区域，用于存储封闭系统区域的控制信息；用户封闭控制区域，用于存储用户区域的控制信息；系统密钥区域，用于存储密钥信息区域；以及用户区，用于存储用户所要存储的信息。