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专利号: 2010102870190
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 光学
更新日期:2024-02-28
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种采用移相定位系统在激光干涉纳米光刻中移相的方法,其特征在于:在两光束或多光束激光干涉光刻中,将两束或多束相干激光光束组合,发生干涉,通过控制移相定位系统使光路的光程发生改变,实现干涉图形的相位移动及定位。

2.根据权利要求1所述的方法,移相定位系统由一个电压源、一个位移驱动器和反射镜组成。 其特征在于:给位移驱动器施加电压时,它沿着轴向方向移动,并且和它固定在一起的反射镜也会沿着它的轴向平行移动,从而改变光程,实现干涉图形的相位移动及定位。

3.根据权利要求2所述的方法,移相定位系统也可通过电压源电压的变化,在与入射光垂直平面方向推动一个光楔,改变光程实现干涉图形的相移。

4.根据权利要求2所述的方法,移相定位系统也可通过电压源电压的变化,在与入射光垂直平面方向控制一个液晶显示器件(LCD),改变光程实现干涉图形的相移。

5.根据权利要求2所述的方法,移相定位系统也可通过电压源电压的变化,控制一个驱动器拉伸光纤,改变光通过光纤光程实现干涉图形的相移。

6.根据权利要求1至5所述的方法,其特征在于:在多光束激光干涉纳米光刻系统中,使用一个移相定位系统给一个位移驱动器施加不同的电压,可以移动一个反射镜的位置,使一路相干光的光程发生改变,实现干涉图形的相位在一个方向上的移动及定位。

7.根据权利要求1至5所述的方法,其特征在于:在多光束激光干涉纳米光刻系统中,使用多个移相定位系统给多个位移驱动器施加不同的电压,可以移动多个反射镜的位置,使多路相干光的光程发生改变,实现干涉图形的相位在多个方向上的移动及定位。

8.根据权利要求1至7所述的方法,其特征在于:在多光束激光干涉纳米光刻系统中,可以使用移相定位系统,通过检测干涉图形的相位差,采用闭环反馈(如锁相)控制干涉图形的相位移动,减少相位漂移使图形定位更精确。

9.根据权利要求1至8所述的方法,其特征在于:给位移驱动器施加电压时,它沿着轴向方向移动,并且和它固定在一起的反射镜沿着它的轴向非平行移动,确保光斑或光束干涉叠加位置不变的条件下改变光程,实现干涉图形的相位移动及定位。