1.基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过改变红外光的频率对化学材料进行光谱测试，确认不同频率所对应的不同红外光谱图并标定吸收峰；

确定对应吸收峰所关联的变化特征，再将属于不同红外光谱图中不同吸收峰的变化特征进行校验核对，基于核对结果标定同类吸收峰，方式为：基于吸收峰所在的红外光谱图，确认对应吸收峰所在的待定波段，并将待定波段中吸收峰前端走势持续向下的曲段以及后端走势持续向上的曲段作为此吸收峰的变化波段；

基于对应吸收峰所确定的变化波段，将吸收峰前端的部分波段记作前波段，将后端的部分波段记作后波段，从前波段中识别相邻节点的变化特征，将相邻节点前一节点所关联的波数记作B1，将吸收率记作X1，将后一节点所关联的波数记作B2，将吸收率记作X2，采用：变化特征=|B1-B2|÷|X1-X2|，确认其相邻节点的变化特征，并确定前波段所关联的若干个变化特征，从中选定最小值以及最大值，确认前波段的前特征区间，采用相同的处理方式，锁定后波段的后特征区间；

依据不同频率红外光所对应的不同红外光谱图，根据频率从小至大的方式，将红外光谱图进行排序；

从排序后的红外光谱图中，识别相邻红外光谱图所关联的同类吸收峰：确认吸收峰所关联的波数BSi-k，其中i=1时，代表前一组红外光谱图，i=2时，代表后一组红外光谱图，k代表不同的吸收峰，将满足：|BS1-k-BS2-k|≤Y1的两组吸收峰记作待比较峰，其Y1取值200cm-1，将两个待比较峰所关联的前特征区间进行重合度校验，锁定前重合率，再将两个待比较峰所关联的后特征区间进行重合度校验，锁定后重合率，将满足：（前重合率+后重合率）÷2≥80％的两组待比较峰记作同类吸收峰；

从同类吸收峰中确定最低吸收率所关联的吸收峰记作主峰，并基于主峰以及其他吸收峰的波数，锁定对应基键的波长，以此确定此化学材料所关联的波长集合，方式为：优先确认同类吸收峰中不同吸收峰所关联的吸收率，从中确定最小吸收率，并将最小吸收率所关联的吸收峰作为此同类吸收峰的主峰，不属于主峰的其他同类吸收峰不参与波长确认进程；

波长确认进程：锁定不同红外光谱图中不同吸收峰所关联的波数，并采用：波长=1÷波数确认对应吸收峰所关联的波长，其波长就是对应基键所关联的振荡波长；

将所确认的若干个波长依据数值从小至大的方式进行排序，确认本化学材料所关联的波长集合；

依据此化学材料所关联的波长集合，结合基键对照表以及化学材料的原有基键，锁定杂质基键并输出展示，具体方式为：基于预设的基键对照表，确认其波长集合内对应波长所相关的基键：其基键对照表内每个不同基键均存在一个波长区间，当对应波长属于对应的波长区间时，则代表对应基键存在；

基于此化学材料的相关配料表，确认此化学材料所存在的原有基键，并将所存在的所有原有基键记作一个原有基键群；

识别波长集合内所相关的基键是否存在于原有基键群内，将存在于原有基键群的基键记作存在基键，将未存在于原有基键群的基键记作杂质基键。

2.根据权利要求1所述的基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，从不同红外光谱图中标定吸收峰的方式为：从预设的频率区间的最小值开始，对红外光的频率进行改变，每次改变进程均增加10THz，并对不同频率红外光在测试过程中所产生的红外光谱图进行确认；

再对红外光谱图中进行吸收峰的标定：将红外光谱图中吸光率低于80％的相关波段记作待定波段，并从所关联的待定波段中锁定峰值点，其峰值点前端曲线走势向下，后端曲线走势向上；

对不同待定波段内所关联的峰值点依次进行标定，并记作属于此红外光谱图所关联的吸收峰。

3.根据权利要求1所述的基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，对同类吸收峰进行标定的进程还包括：从前至后依次对相邻红外光谱图内所存在的同类吸收峰依次进行确认标定，若对应红外光谱图内吸收峰属于与前一组红外光谱图的同类吸收峰，同步属于后一组红外光谱图的同类吸收峰，那么连续的红外光谱图中的吸收峰均为同类吸收峰。

4.根据权利要求1所述的基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，还包括以下步骤：基于所确定的杂质基键，从云数据库中确认不同杂质的关联基键，并将关联基键进行随机组合，确认可疑杂质集，再将可疑杂质集进行吸收峰校验，锁定疑似强度最高的杂质集并展示。

5.根据权利要求4所述的基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，锁定疑似强度最高的杂质集的方式为：基于所确定的杂质基键，锁定对应单组杂质基键所关联的多组吸收峰，并从多组吸收峰中锁定最小吸收率以及最大吸收率，确认属于对应杂质基键的吸收率区间；

从云数据库中确认不同杂质的关联基键，使多个杂质进行随机组合，若组合后所关联的多个关联基键与所确定的杂质基键均一致，将符合组合条件的多个杂质记作可疑杂质集；

若可疑杂质集仅存在一组，则将此可疑杂质集作为疑似强度最高的杂质集并直接展示即可。

6.根据权利要求5所述的基于光谱技术的化学材料纯净度分析方法，其特征在于，若可疑杂质集存在多组：锁定可疑杂质集内每个关联基键预设的标准吸收率，其标准吸收率为预设值，并将不同关联基键的标准吸收率记作BZq，其中q代表不同的关联基键，再锁定与关联基键一致的杂质基键，将此杂质基键的吸收率区间作为此关联基键的校验区间，并识别此BZq与校验区间中间值的差值：其差值=|BZq-校验区间中间值|，再将此可疑杂质集内不同关联基键所关联的差值依次进行确认再进行求和，锁定属于此可疑杂质集的差值特征，其校验区间中间值就是校验区间位于最中间的一组吸收率；

对不同可疑杂质集所关联的差值特征依次进行确认，并从所确认的不同差值特征中，选定最小值，将最小值所关联的可疑杂质集作为疑似强度最高的杂质集并直接展示。