1.一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统，其特征在于，所述一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统包括：激光器，沿光路依次排列的由第一透镜（11）和第二透镜（12）组成的第一会聚部（1），二向色镜（2），荧光会聚镜（3），入射狭缝（4），由第一凹面反射镜（5），闪耀光栅（6）以及第二凹面反射镜（7）组成的第二反射部，探测部（8）；

所述第一透镜（11）、所述第二透镜（12）、荧光会聚镜（3）均为球面镜，所述第一凹面反射镜（5）以及所述第二凹面反射镜（7）均为离轴凹面反射镜；

经所述第一会聚部（1）会聚后的光束经过材料样品，样品经过光束激发后产生荧光，经过所述二向色镜（2）反射后经过所述荧光会聚镜（3），会聚后光束经过所述入射狭缝（4）入射至第一凹面反射镜（5）反射后，经所述闪耀光栅（6）进行光束分光，分光后经所述第二凹面反射镜（7），最后经探测部（8）探测；

所述第二反射部的光焦度为Φ57，材料检测光学系统的光焦度为Φ，满足如下关系：0.32<Φ57/Φ<0.7；所述激光器至样品的光程为L1，所述激光器至探测部（8）的光程为L，其满足如下关系：3.3≤L1/L≤4.5；

所述第一会聚部（1）能够会聚激光器发出的光束入射至样品表面，所述第一会聚部（1）的光焦度Φ1，所述第一透镜（11）的光焦度Φ11，所述第二透镜（12）的光焦度Φ12，所述材料检测光学系统的光焦度为Φ，其满足如下关系：Φ11 =Φ12，0.1≤Φ1/Φ≤0.25；

所述荧光会聚镜（3）的光焦度Φ3，所述材料检测光学系统的光焦度为Φ，其满足如下关系：满足0.08≤Φ3/Φ≤0.2；

所述第一凹面反射镜（5）曲率R1，倾斜角度为θ2，偏心量为Y1其满足如下关系，满足-0.025≤R1≤-0.01，10°≤θ2≤15°，13.5≤Y1≤15；

所述第二凹面反射镜（7）曲率R2，倾斜角度为θ4，偏心量为Y2其满足如下关系：-0.02≤R2≤-0.01，75°≤θ4≤85°，-28≤Y2≤-20；

所述第一凹面反射镜（5）曲率R1，所述第二凹面反射镜（7）曲率R2，其满足如下关系0.8≤R2/R1≤1。

2.如权利要求1所述的材料检测光学系统，其特征在于，所述二向色镜（2），倾斜角度为θ1，其满足如下关系：θ1=45°。

3.如权利要求1所述的材料检测光学系统，其特征在于，所述入射狭缝（4）的宽度为w，其满足如下关系：w≤0.02。

4.如权利要求1所述的材料检测光学系统，其特征在于，所述闪耀光栅（6）的闪耀波长λ，倾斜角度为θ3其满足如下关系：450 nm≤λ≤625 nm，25°≤θ3≤35°。

5.如权利要求1-4中任一项权利要求所述的材料检测光学系统，其特征在于，所述第一凹面反射镜（5），所述闪耀光栅（6），所述第二凹面反射镜（7），沿光线传播方向，所述第一凹面反射镜（5）距离所述闪耀光栅（6）的光程为m1，所述闪耀光栅（6）距离所述第二凹面反射镜（7）的光程为m2，其满足如下关系：0.8≤m1/ m2≤1.8。