1.一种半导体温度测试台，包括固定架(10)，所述固定架(10)的上端固设有支撑架(14)，其特征在于：所述支撑架(14)上固设有散热机构(11)，所述支撑架(14)的前端固设有导滑板(13)，所述导滑板(13)上设有能够上下滑动的连接架(12)，所述连接架(12)的左右两端分别固设有加热器(18)与降温器(19)，所述固定架(10)的下端固设有固定板(20)，所述固定板(20)上连接设有电动机构(21)，所述固定板(20)通过固定架固定连接有导滑杆(27)，所述导滑杆(27)上套设有花键杆(24)，所述花键杆(24)与所述导滑杆(27)之间设有推簧(26)，所述花键杆(24)的外周上花键配合有花键套(23)，所述花键套(23)的外周上固设有从动轮(22)，所述电动机构(21)与所述从动轮(22)连接配合，所述固定架(10)的前端通过固定杆能够与导滑杆(27)固定连接，所述导滑杆(27)内设有能够上下滑动、且能够周向旋转的检测台(25)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体温度测试台，其特征在于：所述支撑架(14)前端部分的上端面上固设有气缸(15)，所述气缸(15)的上端连接设有伸缩气杆(16)，所述伸缩气杆(16)的上端连接设有连接框(17)，所述连接框(17)的下端与所述连接架(12)固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种半导体温度测试台，其特征在于：所述电动机构(21)包括固设有在所述固定板(20)下端面上的动力源，动力源的上端设有动力输出端，动力输出端向上延伸贯穿所述固定板(20)，动力输出端的上端固设有主动轮。

4.根据权利要求3所述的一种半导体温度测试台，其特征在于：所述导滑板(13)的前端面上固设有T形滑槽，所述连接架(12)与所述导滑板(13)通过T形滑槽滑动配合。

5.根据权利要求4所述的一种半导体温度测试台，其特征在于：所述推簧(26)的下端与所述导滑杆(27)连接，所述推簧(26)的上端与所述花键杆(24)抵接。

6.根据权利要求5所述的一种半导体温度测试台，其特征在于：所述从动轮(22)的外周与所述电动机构(21)上的主动轮的外周面啮合。