1.一种集成电路测试座，包括测试座主体(1)，其特征在于：所述测试座主体(1)的顶部设置有密封板(2)，所述密封板(2)的底部设置有压座(3)，所述测试座主体(1)的内壁开设有若干组凹槽(4)，所述凹槽(4)的内腔设置有两组齿板(5)和齿轮(6)，右侧所述齿板(5)的顶部设置有探针(7)，所述测试座主体(1)的内腔底部开设有槽孔(8)，所述测试座主体(1)的内腔设置有弹簧(9)和限位杆(10)，所述测试座主体(1)的内壁设置有排风管(11)，所述测试座主体(1)的背面开设有第二凹槽(12)，所述第二凹槽(12)的内腔设置有气泵(13)和滤网(14)，所述测试座主体(1)的顶部开设有第三凹槽(18)，所述第三凹槽(18)的内腔设置有电动推杆(19)且顶部与密封板(2)连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：左侧所述凹槽(4)内的左侧所述齿板(5)贯穿凹槽(4)的内腔且可以移动，两组所述齿板(5)上的齿牙均与齿轮(6)啮合。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述槽孔(8)的直径大于探针(7)，所述槽孔(8)与凹槽(4)互通，所述排风管(11)与凹槽(4)的内腔互通，所述气泵(13)与排风管(11)互通。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述限位杆(10)贯穿齿板(5)的内腔，左侧所述凹槽(4)内的左侧所述齿板(5)可在限位杆(10)的外圈上下移动，所述弹簧(9)位于齿板(5)且设置在限位杆(10)的外圈。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座主体(1)的内腔设置有垫块(15)，所述垫块(15)与左侧所述齿板(5)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述压座(3)的底部开设有缓冲槽(20)，所述缓冲槽(20)的内腔设置有缓冲弹簧(21)，所述缓冲弹簧(21)的底部固定连接有缓冲座(22)。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述压座(3)的外圈开设有滑槽(23)，所述滑槽(23)的内腔设置有滑块(24)，所述滑块(24)的缓冲座(22)固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座主体(1)的顶部开设有稳固槽(16)，所述稳固槽(16)的内腔设置有稳固杆(17)，所述稳固杆(17)与密封板(2)固定连接。