1.基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

获取发光二极管照明灰度图像及照明质量待测区并计算发光二极管的显色指数、初始光通量和初始光效；

将照明质量待测区根据灰度值分为第一区域和第二区域，获取第一区域和第二区域的能量值以及灰度均值，获取照明质量待测区的最小外接矩阵与照明侧，计算第一区域和第二区域中每个像素点到照明侧的距离为第一距离、第二距离；根据第一区域的能量值、灰度均值、所有第一距离的均值与第二区域的能量值、灰度均值、所有第二距离的均值得到照明质量待测区的照明均匀度；

根据照明质量待测区的最小外接矩阵中照明侧中点与其在最小外接矩阵中的中点将最小外接矩形分为第一部分和第二部分，获取最小外接矩形内的所有边缘像素点，根据边缘点所在部分得到每个边缘点到各自部分中最小外接矩阵侧边的距离，根据距离大小标记像素点，根据所有的标记像素点得到最小观察角度；

根据照明质量待测区所有像素点的灰度值获得生长阈值，根据生长阈值将照明质量待测区分为若干第三区域，获取每个第三区域的边缘像素点，根据每个第三区域的边缘像素点与最小观察角度进行判断获得若干第四区域；

根据第四区域数量、第三区域数量、照明质量待测区的照明均匀度、最小观察角度以及发光二极管的显色指数、初始光通量和初始光效获得照明综合质量；

获取多个方位的照明综合质量，选择最大的两个照明综合质量的均值作为照明综合质量的最终值，根据照明综合质量的最终值判断发光二极管质量。

2.根据权利要求1所述的基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法，其特征在于，所述获取照明质量待测区的最小外接矩阵与照明侧，计算第一区域和第二区域中每个像素点到照明侧的距离为第一距离、第二距离的方法为：获取照明质量待测区的最小外接矩阵，将最小外接矩阵中靠近光源的一侧记为照明侧，将第一区域的每个像素点与照明侧上的所有像素点计算其欧式距离，其中最小的距离即为该像素点到照明侧的第一距离，第二区域同理，每个像素点与照明侧上所有像素点计算欧氏距离，其中最小距离为该像素点到照明侧的第二距离。

3.根据权利要求1所述的基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法，其特征在于，所述根据第一区域的能量值、灰度均值、所有第一距离的均值与第二区域的能量值、灰度均值、所有第二距离的均值得到照明质量待测区的照明均匀度的方法为：式中，asm1表示第一区域的能量值，asm2表示第二区域的能量值，exp()为以自然常数为底的指数函数，x1为第一区域的灰度均值，x2为第二区域的灰度均值，di1为第一区域的距离序列，n1为第一区域的像素点数量，di2为第二区域的距离序列，n2为第二区域的像素点数量，u表示照明质量待测区的照明均匀度。

4.根据权利要求1所述的基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法，其特征在于，所述根据生长阈值将照明质量待测区分为若干第三区域，获取每个第三区域的边缘像素点，根据每个第三区域的边缘像素点与最小观察角度进行判断获得若干第四区域的方法为：获取照明质量待测区灰度值1％的所有像素点的灰度值，根据这些像素点的最大值和最小值得到生长阈值，获得若干第三区域；

对于每个第三区域得到其边缘像素点，对于每个第三区域的边缘像素点使用霍夫圆检测，遍历所有边缘像素点，得到投票权重最高的圆形，之后根据最小观察角度与圆周的比值同比降低成圆阈值，当投票数大于成圆阈值时，认为第三区域为第四区域，由此将所有的第三区域转换为若干第四区域。

5.根据权利要求1所述的基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法，其特征在于，所述根据第四区域数量、第三区域数量、照明质量待测区的照明均匀度、最小观察角度以及发光二极管的显色指数、初始光通量和初始光效获得照明综合质量的方法为：式中，b