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专利号: 2024100021919
申请人: 杭州电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2026-06-04
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.将数据集划分为训练集和测试集,并进行预处理,构造待修复图像IS2.将训练集中待修复图像IS3.将特征图F

S4.通过级联多个多粒度残差模块,构成多粒度特征提取模块,得到特征图FS5.将特征图F

S6.计算损失,通过图像级损失及特征级损失进行参数优化。

2.根据权利要求1所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,在步骤1中,所述预处理包括:将图像像素值规范化到[-1,1]区间,采用插值方法将图像缩放至统一的空间分辨率;

所述构造待修复图像I

其中,I

3.根据权利要求1所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,在步骤2中,所述编码器由三个卷积模块实现,每个卷积模块由卷积层、批标准化层及ReLU激活函数层组成,第一个卷积模块的卷积步长设置为1,第二个和第三个卷积模块的卷积步长设置为2,实现对特征图的降采样。

4.根据权利要求3所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,步骤3具体过程如下:S31.将特征图F

F

其中,f

S32.将特征图F

F

其中,f

S33.将细粒度特征图和粗粒度特征图在通道维度进行级联,再输入到1×1的卷积层fS34.对卷积特征图F

S35.将权重向量A作用于卷积特征图F其中,

5.根据权利要求4所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,步骤S34具体过程如下:(1)对卷积特征图F

其中,H和W表示特征图的高和宽;

(2)对通道描述D进行降采样和上采样操作,其计算公式为:D′=f

其中,f

(3)将D′输入到激活函sigmoid层,得到通道相关的权重向量A。

6.根据权利要求5所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,步骤5中,所述的通道自适应上采样卷积模块具体过程如下:S51.将特征图F

S52.对特征图F′

S53.对特征图F

S54.将特征图F′

7.根据权利要求6所述的基于多粒度空洞卷积神经网络的图像修复方法,其特征在于,步骤6具体过程如下:S61.所述图像级损失包括L其中,I为模型生成的图像,IS62.所述特征级损失包括特征重建损失L其中,

S63.将不同损失项加权得到总体损失函数:L=λ

其中,λ

S64.通过损失值计算模型梯度,并更新模型中的参数。