1.一种测试硅片抗弯强度的装置，包括支架和硅片(50)，其特征在于，还包括：用于对硅片(50)进行承载的承载组件，且支架上设有两组承载组件；

用于对两组硅片(50)进行同时挤压的下压组件，且下压组件设在支架上。

2.根据权利要求1所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述支架包括：侧板(11)；

支撑板(12)，所述侧板(11)的一侧两端均固定安装支撑板(12)；

隔板(13)，所述隔板(13)固定安装在侧板(11)的一侧上，且隔板(13)位于两组支撑板(12)之间的中部上。

3.根据权利要求2所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述下压组件包括：螺杆(21)，所述螺杆(21)通过轴承转动连接在两组支撑板(12)之间，且螺杆(21)的中部通过轴承转动连接在隔板(13)上；

滑块(22)，所述螺杆(21)的两端均螺纹连接滑块(22)；

导向杆(23)，所述导向杆(23)固定安装在两组支撑板(12)之间，且导向杆(23)贯穿隔板(13)，所述滑块(22)滑动连接在导向杆(23)上。

4.根据权利要求3所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述下压组件还包括：箱体(24)，所述箱体(24)固定安装在顶部的支撑板(12)上；

伺服电机(25)，所述伺服电机(25)固定安装在箱体(24)的内壁上，且伺服电机(25)的输出轴固定安装螺杆(21)。

5.根据权利要求4所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述下压组件还包括：盒体(26)，所述盒体(26)固定安装在滑块(22)的侧壁上；

电动推杆(27)，所述电动推杆(27)固定安装在盒体(26)的内壁上；

支撑块(28)，所述电动推杆(27)的输出端通过活塞杆固定安装支撑块(28)。

6.根据权利要求5所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述下压组件还包括：压力传感器(31)，所述压力传感器(31)固定安装在支撑块(28)的底部上；

下压杆(29)，所述下压杆(29)固定安装在压力传感器(31)的底部上；

挤压块(30)，所述挤压块(30)固定安装在下压杆(29)的底部上，且挤压块(30)的正下方设有硅片(50)。

7.根据权利要求2所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述承载组件包括：放置盒(41)，所述放置盒(41)的内腔设有硅片(50)；

通孔(42)，所述通孔(42)开设在放置盒(41)的底端上。

8.根据权利要求7所述的一种测试硅片抗弯强度的装置，其特征在于，所述承载组件还包括：立杆(43)，所述放置盒(41)的底部固定安装若干立杆(43)；

凹槽(44)，所述隔板(13)的顶端和底部所述支撑板(12)的顶端均开设若干凹槽(44)，且立杆(43)的底端插在凹槽(44)中；

固定板(45)，所述放置盒(41)的内腔两端均通过螺丝固定安装固定板(45)；

手拧螺丝(46)，所述手拧螺丝(46)螺纹连接在固定板(45)上；

圆板(47)，所述圆板(47)固定安装在手拧螺丝(46)的底端上。