1.一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，包括底板(1)，所述底板(1)的上表面拐角处安装有两组挡块(3)，每组所述挡块(3)之间固定安装有滑动杆(22)，所述滑动杆(22)上滑动安装有两个滑动块(18)，两个所述滑动块(18)之间固定安装有横杆(21)，所述横杆(21)的内侧表面安装有移动杆(20)，所述底板(1)的上表面一侧安装有垫板(17)，所述垫板(17)的上表面安装有电机(16)，所述电机(16)的输出端安装有螺纹杆(19)，两个所述滑动块(18)的上表面均固定安装有电动伸缩杆(4)，所述电动伸缩杆(4)的上表面安装有横板(11)，所述横板(11)的上表面安装有两个挡板(5)，两个所述挡板(5)的一侧均安装有两个伸缩杆(14)，两个所述伸缩杆(14)上均套有伸缩弹簧(13)。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述底板(1)的下表面安装有四个支撑块(2)。

3.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，两个所述挡板(5)的一侧均安装有两个伸缩弹簧(13)，两个所述伸缩弹簧(13)的一端均焊接有推动块(15)。

4.根据权利要求3所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述推动块(15)的一侧固定安装有推动板(12)，所述推动板(12)的一侧表面设有防滑橡胶垫(10)。

5.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述挡板(5)的上表面安装有支撑板(6)，所述支撑板(6)的一侧焊接有两个铁块(7)。

6.根据权利要求5所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，两个所述铁块(7)的内表面设置有支撑杆(9)，所述支撑杆(9)上安装有照明灯(8)。