1.一种自动化芯片测试系统，包括测试台（1），其特征在于：所述测试台（1）的顶部固定连接有测试架体（2）,所述测试架体（2）的内顶壁固定连接有固定液压杆（3）,所述固定液压杆（3）的一端固定连接有安装架（4）,所述安装架（4）的侧面固定连接有固定座（5），所述固定座（5）的内部开设有安装槽（6），所述安装架（4）的内部开设有内部槽（7），所述安装槽（6）和内部槽（7）的内部分别滑动连接有活动插销（8），所述活动插销（8）的内部通过螺纹转动连接有固定螺母（9），所述固定螺母（9）的一端固定连接有测试器本体（10）。

2.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试系统，其特征在于：所述测试台（1）的顶部固定连接有固定液压缸（11），所述固定液压缸（11）的一端固定连接有限位架（12），所述测试架体（2）的侧面固定连接有侧面架（13），所述侧面架（13）的侧面固定连接有推动液压缸（14），所述推动液压缸（14）的一端固定连接有推动板（15）。

3.根据权利要求2所述的一种自动化芯片测试系统，其特征在于：所述推动板（15）位于限位架（12）的侧面，所述推动板（15）的形状为矩形。

4.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试系统，其特征在于：所述测试台（1）的侧面固定连接有侧面盒（17），所述侧面盒（17）的开设有盒槽（18），所述盒槽（18）的内部固定有固定弹簧（19），所述固定弹簧（19）的顶部固定连接有支撑架（20）。

5.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试系统，其特征在于：所述测试台（1）的内部滑动连接有活动抽屉（21），所述活动抽屉（21）的侧面安装有把手（22）。

6.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试系统，其特征在于：所述测试台（1）的内部固定连接有放置架（16），所述放置架（16）数量为两个。