1.一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：应用激光熔覆喷嘴、测量装置、对准校正仪器和高度测量仪器，所述测量装置包括底座、升降支架、升降台、升降调节机构、夹持器和粉末分层收集器；

所述底座经所述升降支架连接所述升降台，所述升降调节机构用于调节所述升降支架带动升降台升、降；

所述升降台上设置所述夹持器，所述夹持器夹持所述粉末分层收集器；

所述粉末分层收集器包括顶端粉末收集盘、中间粉末收集盘和底端粉末收集盘；

所述顶端粉末收集盘包括第一内套筒、第一底盘和第一外套筒，所述第一内套筒的上端设置为第一开口，所述第一内套筒的下端连接第一底盘的中间位置，所述第一内套筒整体外轮廓为锥台形，所述第一底盘的边沿设置所述第一外套筒；

所述中间粉末收集盘包括第二内套筒、第二底盘和第二外套筒，所述第二内套筒的上端设置为第二开口，所述第二内套筒的下端连接第二底盘的中间位置，所述第二内套筒整体外轮廓为锥台形，所述第二内套筒的外壁设置若干个支撑板，所述第二底盘的边沿设置所述第二外套筒；

所述底端粉末收集盘包括第三底盘、支撑架和第三外套筒，所述支撑架设置于第三底盘的中间位置，所述第三底盘的边沿设置所述第三外套筒；

底端粉末收集盘上从下向上依次叠放多个中间粉末收集盘，顶端粉末收集盘叠放于最上端的中间粉末收集盘上；

其中，

最下端中间粉末收集盘的第二内套筒及第二底盘搭接于底端粉末收集盘的支撑架上，最下端中间粉末收集盘的第二外套筒嵌套于底端粉末收集盘的第三外套筒内，最下端中间粉末收集盘的第二底盘与底端粉末收集盘的第三底盘之间留有间隙，最下端中间粉末收集盘的第二外套筒与底端粉末收集盘的第三外套筒之间留有间隙；

相邻的中间粉末收集盘之间，上方中间粉末收集盘的第二内套筒及第二底盘搭接于下方中间粉末收集盘的支撑板上，上方中间粉末收集盘的第二外套筒嵌套于下方中间粉末收集盘的第二外套筒内，上方中间粉末收集盘的第二内套筒与下方中间粉末收集盘的第二内套筒之间留有间隙，上方中间粉末收集盘的第二底盘与下方中间粉末收集盘的第二底盘之间留有间隙，上方中间粉末收集盘的第二外套筒与下方中间粉末收集盘的第二外套筒之间留有间隙；

顶端粉末收集盘的第一内套筒及第一底盘搭接于最上端中间粉末收集盘的支撑板上，顶端粉末收集盘的第一外套筒嵌套于最上端中间粉末收集盘的第二外套筒内，顶端粉末收集盘的第一内套筒与最上端中间粉末收集盘的第二内套筒之间留有间隙，顶端粉末收集盘的第一底盘与最上端中间粉末收集盘的第二底盘之间留有间隙，顶端粉末收集盘的第一外套筒与最上端中间粉末收集盘的第二外套筒之间留有间隙；

顶端粉末收集盘的第一开口和多个中间粉末收集盘的第二开口处于同一平面，第一开口内部依次嵌套多个第二开口，定义第一开口、第二开口构成的台面为测量台面，定义第一开口和第二开口之间以及相邻的第二开口之间的间隙为测量间隙，定义第一内套筒与第二内套筒之间以及相邻的第二内套筒之间的间隙为滑落间隙；

所述方法包括如下步骤：

步骤1、测量前对准校正

利用对准校正仪器将激光熔覆喷嘴的中心与粉末分层收集器的中心在垂直方向上对准；

步骤2、选定测量截面

由升降调节机构调节升降支架带动升降台升、降以带动粉末分层收集器升、降，通过高度测量仪器确定测量台面与激光熔覆喷嘴下端处于设定距离；

步骤3、收集粉末

通过送粉系统向激光熔覆喷嘴输送粉末流，粉末流从激光熔覆喷嘴流出冲击测量台面并持续设定时间，粉末进入若干个测量间隙内，粉末沿着若干个滑落间隙落至第三底盘及若干个第二底盘内；

步骤4、测量粉末

称量第三底盘及若干个第二底盘内的粉末，以得到设定时间内各测量间隙内的粉末分布。

2.根据权利要求1所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：所述升降支架包括第一支撑臂和第二支撑臂，第一支撑臂与第二支撑臂交叉布置，第一支撑臂与第二支撑臂在交叉位置铰接，第一支撑臂的下端铰接底座的左端，第一支撑臂的上端滑动连接升降台的右端，第二支撑臂的下端滑动连接底座的右端，第二支撑臂的上端铰接升降台的左端；

所述升降调节机构包括丝母、丝杆和调节旋钮，所述丝母设置于第一支撑臂的上端，所述丝杆转动连接于所述升降台上，所述丝杆与所述丝母配合，所述丝杆的外端设置所述调节旋钮；

步骤2中，通过转动调节旋钮，以使丝母相对于丝杆移动，进而带动第一支撑臂与第二支撑臂的夹角，以由升降支架带动升降台升、降。

3.根据权利要求2所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：所述升降台的右端设置有上滑槽，所述第一支撑臂的上端设置有上限位轴，所述上限位轴配合于上滑槽内；所述底座的右端设置有下滑槽，所述第二支撑臂的下端设置有下限位轴，所述下限位轴配合于下滑槽内。

4.根据权利要求1所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：所述对准校正仪器包括上校正锥和下校正锥；

步骤1中，将上校正锥套在激光熔覆喷嘴的下端，将下校正锥套在粉末分层收集器的顶端粉末收集盘的第一内套筒的上端，使上校正锥的末端与下校正锥的末端对准，以将激光熔覆喷嘴的中心与粉末分层收集器在垂直方向上对准。

5.根据权利要求1所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：所述高度测量仪器包括刻度尺、上测量杆和下测量杆，所述刻度尺上分别活动配合所述上测量杆和所述下测量杆，上测量杆、下测量杆分别与刻度尺垂直布置，步骤2中，将刻度尺布置于升降台，使刻度尺与“激光熔覆喷嘴的中心与粉末分层收集器的中心连线”平行布置，将上测量杆对准激光熔覆喷嘴下端，将下测量杆对准测量台面，由刻度尺测量上测量杆和下测量杆之间的距离，即可确定测量台面与激光熔覆喷嘴下端处于设定距离。

6.根据权利要求1所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：第一内套筒和第二内套筒整体外轮廓为圆锥台形。

7.根据权利要求1所述的一种激光熔覆粉末流聚集性测量方法，其特征在于：步骤3中，先将托盘放置于激光熔覆喷嘴与粉末分层收集器之间，开启送粉系统，利用托盘收集从激光熔覆喷嘴流出的粉末流，待粉末流稳定后，将托盘从激光熔覆喷嘴与粉末分层收集器之间抽离并开始计时至设定时间，再将托盘重新放置于激光熔覆喷嘴与粉末分层收集器之间，关闭送粉系统。