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专利号: 202210682961X
申请人: 燕山大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.基于改进的椭圆拟合优化算法测量锻件倾斜度的方法,其特征在于:本方法使用的实验装置包括激光测距实验装置与检测驱动实验装置,所述激光测距实验装置包括:倾斜度可调平台(2)、载物台(3)、底座(10)、可调支脚(11)、激光测距仪(12)和计算机(13),所述检测驱动实验装置包括:步进电机(4)、螺旋丝杆(5)、转轴(7)、伺服电机(8)、减速箱(9)和固定支架(6),被测锻件(1)固定在倾斜度可调平台(2)上,包括如下步骤:步骤1:使被测锻件的旋转轴心对准转轴,激光测距仪达到测量位置;

步骤2:计算机驱动激光测距仪和伺服电机同时启动,测得激光测距仪与被测锻件表面间的动态距离;

步骤3:控制计算机的系统装置对距离信息进行坐标变换、样本点筛选,剔除异常值的影响后,对筛选后的点进行椭圆拟合,具体步骤为:步骤31:激光测距仪每次转过的角度记为θ0,则激光测距仪在某一位置转过的角度θ为kθ0,k表示激光测距仪扫过的第k个点,第k点的位置坐标(xk,yk),即被测锻件轮廓样本点坐标为:xk=(L‑d)·cosθ

yk=(L‑d)·sinθ

式中:L表示激光测距仪至旋转中心的距离,d表示激光测距仪至被测锻件表面的距离;

步骤32:对所述步骤31获得的被测锻件被测截面轮廓样本点进行随机区域划分,每次随机均匀分成6个区域,并从每个区域中随机选取一个样本点,对所选取的样本点进行直接代数拟合,直接代数拟合所表示的椭圆方程为:

2 2

Ax+Bxy+Cy+Dx+Ey+F=0

构建正交几何距离残差模型,依照该模型对样本点进行加权分位数筛选,遍历所有样本点,保存符合条件的正交几何残差所对应的样本点;

步骤33:对上述保存的样本点进行基于粒子群优化算法的椭圆拟合,根据所述步骤32中正交几何距离残差模型的定义,将目标椭圆参数的问题被转化为求解非线性目标函数的问题,设置拟合椭圆与步骤32所选取的样本点的最小正交几何距离残差为目标函数,椭圆由模型向量u表征,具体为:t

u=(xc yc a’b’α)

式中:(xc,yc)为椭圆中心,a’为长轴,b’为短轴,α为长轴a’与X正半轴的夹角;满足约束条件为:+

C1:a’,b’∈R

C2:b’≤a’

C3:α∈[0,π)

C4:xc,yc∈R

利用粒子群优化算法求解目标2函数,目标函数所对应的模型向量u即为拟合椭圆参数;

步骤4:控制步进电机运动带动螺旋丝杆,共得到8个不同高度横截面测量情况,相邻横截面间的垂直距离均为16mm,计算出各截面中心点,由各横截面中心拟合出被测锻件的中轴线,最后由中轴线方程求解锻件倾斜角度,具体为:式中,(a,b,c)为中轴线上已知点坐标,(m,n,l)是中轴线的方向向量由中轴线在XOZ面、YOZ面的投影方程的斜率可求得为对应X、Y向倾斜角度。

2.根据权利要求1所述的基于改进的椭圆拟合优化算法测量锻件倾斜度的方法,其特征在于,所述步骤32中的代数拟合方法为:由公式来确定每个系数,然后根据极值原理,为了最小化f(A,B,C,D,E,F),必须有。

3.根据权利要求1所述的基于改进的椭圆拟合优化算法测量锻件倾斜度的方法,其特征在于,所述步骤32中的椭圆正交几何距离残差模型建立过程为:从一个通用椭圆的几何方程开始,该椭圆的a’为长轴,b’为短轴,方向角α即椭圆长轴a’与X正半轴的夹角,中心(xc,yc),椭圆方程的几何表示具体为:为减小求取正交点时所需的计算量,在拟合坐标系(O‑XY)内建立新的局部坐标系(o‑xy),两坐标系的变换关系用旋转矩阵和平移向量表示:式中,平移向量中的Xc,Yc表示椭圆在拟合坐标系下的圆心坐标,以上参数均由迭代的初值所提供;

在局部坐标系中,椭圆的方程表示为:

在正交点的切线方程表示为:

由此可得局部坐标系下,正交几何距离残差模型可以写为: