1.一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：对待测微电子玻璃绝缘端子的图像进行预处理，获取待检测区域，并将待检测区域划分为若干个扇区；

S2：提取扇区的内部特征以及扇区的邻域特征；

S3：将扇区的内部特征和扇区的邻域特征进行拼接，将拼接结果输入分类器，分类器输出微电子玻璃绝缘端子封装的缺陷位置检测结果。

2.根据权利要求1所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，S1中，获取待检测区域的具体步骤包括：对微电子玻璃绝缘端子的图像进行蓝色阈值选取，得到初始的玻璃封装区域；

对初始的玻璃封装区域依次进行开操作和闭操作；

在经过开操作和闭操作的玻璃封装区域中，选择最大连通域作为待检测区域。

3.根据权利要求1所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，S1中，以微电子玻璃绝缘端子的引脚的区域中心为圆心，按照经纬线方向将待检测区域划分为若干个扇区，具体包括以下步骤：m+2

在经线方向上，将待检测区域分为2 个扇形，其中m表示经度参数；

在纬线方向上，将待检测区域分为c(n+1)个同心圆；纬线划分系数c的表达式为：其中，n表示纬度参数，R表示微电子玻璃绝缘端子待检测区域的外径，r表示引脚占据区域半径， 为向下取整操作；

m+2

经过经纬线方向的划分，将待检测区域划分为c(n+1)×2 个扇区。

4.根据权利要求1所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，S2中，所述扇区的内部特征包括扇区基本统计特征、扇区灰度变化率、扇区反光特征和扇区方向统计特征。

5.根据权利要求4所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，S2中，提取扇区的邻域特征具体包括以下步骤：获取经度为j，纬度为k的扇区SECj,k及其若干个邻域扇区的形心，并以所述形心为中心，生成边长为 的若干个正方形块；

将所述正方形块输入分类模型进行分类，得到扇区的分类结果，将扇区的分类结果组成当前扇区的分类表；

根据当前扇区的分类表，从扇区SECj,k的左上角的邻域扇区开始，按照顺时针顺序将邻域扇区的分类结果进行排列，构成扇区SECj,k的邻域特征SNj,k。

6.根据权利要求5所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，将正方形块输入Resnet50网络分类模型进行分类，得到扇区的分类结果，将扇区的分类结果组成当前扇区的分类表。

7.根据权利要求6所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，其特征在于，S3中，将扇区的内部特征和扇区的邻域特征SNj,k进行拼接，得到扇区精细分类特征Fj,k，将扇区精细分类特征Fj,k输入GBDT分类器，GBDT分类器输出微电子玻璃绝缘端子封装的缺陷位置；其中，扇区精细分类特征Fj,k的表达式如下所示：其中， 表示扇区基本统计特征， 表示扇区灰度变化率， 表示扇区反光特征，表示扇区方向统计特征。

8.一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测系统，其特征在于，包括：预处理模块，用于对微电子玻璃绝缘端子的图像进行预处理，获取待检测区域，并将待检测区域划分为若干个扇区；

特征提取模块，用于提取扇区的内部特征以及扇区的邻域特征；

检测模块，包括分类单元，用于将扇区的内部特征和扇区的邻域特征进行拼接，将拼接结果输入分类单元，分类单元输出微电子玻璃绝缘端子封装的缺陷位置的检测结果。

9.根据权利要求8所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测系统，其特征在于，所述特征提取模块包括扇区基本统计特征提取单元、扇区灰度变化率提取单元、扇区反光特征提取单元、扇区方向统计特征提取单元和扇区的邻域特征提取单元。

10.一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测装置，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行存储器中的计算机程序时实现如权利要求1～7任一项所述的微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法的步骤。