1.一种方位识别方法，其特征在于，所述方法包括：

采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；

计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；

将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系；

所述参考数据通过如下方式得到：

选取所述参考面上标定的不同方位作为所述参考方位，分别采集所述电子设备处于所述参考方位时的第二图像信息，并提取所述第二图像信息得到像素矩阵；

获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，并将所述参考像素占比与所述参考方位建立关联，得到所述映射关系。

2.根据权利要求1所述的方位识别方法，其特征在于，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：获取所述像素矩阵的长度和宽度；

遍历所述像素矩阵，确定所述像素矩阵中所述参考面对应的第一像素点数量；

基于所述长度、所述宽度以及所述第一像素点数量，计算得到所述像素矩阵的所述参考像素占比。

3.根据权利要求2所述的方位识别方法，其特征在于，所述方法还包括所述电子设备的正面远离所述参考面时的所述参考像素占比大于所述电子设备的正面靠近所述参考面时的所述参考像素占比。

4.根据权利要求1所述的方位识别方法，其特征在于，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：获取所述像素矩阵的长度和宽度；

根据所述长度和所述宽度，确定子像素矩阵各自的分割条件，并对所述像素矩阵进行划分得到所述子像素矩阵；

分别遍历所述子像素矩阵，确定所述子像素矩阵中所述参考面对应的第二像素点数量；

基于所述分割条件以及所述第二像素点数量，计算得到各所述子像素矩阵的所述参考像素占比。

5.根据权利要求4所述的方位识别方法，其特征在于，所述方法还包括若各所述子像素矩阵的所述参考像素占比相同，则对所述电子设备进行旋转，以使所述参考像素占比不同。

6.根据权利要求4或5所述的方位识别方法，其特征在于，所述分割条件包括将所述像素矩阵均分为四个所述子像素矩阵。

7.一种方位识别装置，其特征在于，所述装置包括：

采集模块，配置用于采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；

计算模块，配置用于计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；

比较模块，配置用于将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系；

所述比较模块，还被配置用于选取所述参考面上标定的不同方位作为所述参考方位，分别采集所述电子设备处于所述参考方位时的第二图像信息，并提取所述第二图像信息得到像素矩阵；获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，并将所述参考像素占比与所述参考方位建立关联，得到所述映射关系。

8.一种测试系统，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任意一项所述的方位识别方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任意一项所述的方位识别方法的步骤。