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专利号: 202122339863X
申请人: 江苏钰晶半导体科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2026-04-03
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种桥堆测试座,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)正前方壁体的中部开设有第一凹槽(2),所述第一凹槽(2)的内腔下侧壁体开设有线槽(3),所述线槽(3)内腔远离第一凹槽(2)的一侧开设有第一测试槽(4),所述第一凹槽(2)的内腔底部开设有第一限位槽(5),所述第一限位槽(5)的内腔中部设置有限位块(6),所述限位块(6)的后侧设置有第一弹簧(7),所述限位块(6)远离第一弹簧(7)的一侧固定连接有顶块(8),所述顶块(8)远离限位块(6)的一端固定连接有第一橡胶垫(9),所述底座(1)的正前方壁体的底部左右两侧对称开设有第一卡槽(10),所述第一卡槽(10)的内腔底部开设有第二凹槽(11),所述第二凹槽(11)内腔的前后两侧对称开设有第二限位槽(12),所述第二凹槽(11)的中部插设有第一固定柱(13),所述第一固定柱(13)的底端固定连接有第二固定块(17),所述第二固定块(17)远离第一固定柱(13)的一端固定连接有拉环(18),所述第一固定柱(13)的前后两侧壁体的顶部对称固定连接第一固定块(14),所述第一固定块(14)的中部插设有第二固定柱(15),所述第二固定柱(15)的底端套设有第二弹簧(16),所述底座(1)的顶部通过插销(19)转动连接有顶盖(20),所述顶盖(20)的底部固定连接有第三固定块(21),所述第三固定块(21)远离顶盖(20)的一端固定连接有第二橡胶垫(22),所述顶盖(20)底部壁体的正前方开设有第二测试槽(23),所述顶盖(20)底部的左右两侧对称固定连接有第三固定柱(24),所述第三固定柱(24)的底部开设有第二卡槽(25)。

2.根据权利要求1所述的一种桥堆测试座,其特征在于:所述顶块(8)远离限位块(6)的一端延伸至第一凹槽(2)的内部,所述限位块(6)的大小与第一限位槽(5)的大小相同,所述第一弹簧(7)设置在第一限位槽(5)的内部,所述顶盖(20)的大小与底座(1)的大小相适配。

3.根据权利要求2所述的一种桥堆测试座,其特征在于:所述第三固定块(21)的位置与顶块(8)的位置相对应,所述第三固定块(21)远离顶盖(20)的一端延伸至第一凹槽(2)的内部,所述线槽(3)的正前方与外界相连通,所述第一测试槽(4)的正前方与外界相连通,所述第一测试槽(4)内腔远离线槽(3)的一侧与外界相连通,所述第一测试槽(4)的位置与第二测试槽(23)的位置相对应,所述第一测试槽(4)的大小与第二测试槽(23)的大小相适配。

4.根据权利要求3所述的一种桥堆测试座,其特征在于:所述第一固定块(14)的大小与第二限位槽(12)的大小相适配,所述第一固定块(14)的位置与第二限位槽(12)的位置相对应,所述第一固定块(14)设置在第二限位槽(12)的内部,所述第二固定柱(15)的上下两端与第二限位槽(12)内腔的顶部壁体与底部壁体固定连接,所述第二弹簧(16)设置在第二限位槽(12)的内部。

5.根据权利要求4所述的一种桥堆测试座,其特征在于:所述第一固定柱(13)的大小与第二凹槽(11)的大小相同,所述第二凹槽(11)远离第一卡槽(10)的一端与外界相连通,所述第二固定块(17)设置在底座(1)的正下方,所述第一固定柱(13)远离第二固定块(17)的一端设置为截面,所述第一固定柱(13)远离第二固定块(17)的一端延伸至第一卡槽(10)的内部。

6.根据权利要求5所述的一种桥堆测试座,其特征在于:所述第一卡槽(10)的位置与第三固定柱(24)的位置相对应,所述第三固定柱(24)远离顶盖(20)的一端延伸至第一卡槽(10)的内部,所述第三固定柱(24)远离顶盖(20)的一端设置为截面,所述第二卡槽(25)的位置与第二凹槽(11)的位置相对应。