1.一种晶体表面平整度检测设备，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上表面设置有限位机构(2)，所述工作台(1)的上表面固定连接有检测机构(4)，所述工作台(1)的表面固定连接有取下机构(5)，所述工作台(1)的表面固定连接有成品箱(6)和次品箱(7)；

所述限位机构(2)包括基座(201)，所述基座(201)的上表面开设有取放槽(202)，所述基座(201)的上表面固定连接有限位块(203)，所述基座(201)的下表面设置有驱动机构(3)；

所述取下机构(5)包括电动推杆(501)，所述电动推杆(501)的输出端固定连接有电动转轴一(502)，所述电动转轴一(502)的表面固定连接有气缸二(503)，所述气缸二(503)的输出端固定连接有电动转轴二(504)，所述电动转轴二(504)的表面固定连接有插板(505)。

2.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述驱动机构(3)包括移动槽(301)，所述移动槽(301)位于工作台(1)的表面，所述移动槽(301)的内壁滑动连接有连接座(302)，所述工作台(1)的下表面固定连接有气缸一(303)。

3.根据权利要求2所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述连接座(302)的上表面与基座(201)固定连接，所述气缸一(303)的输出端与连接座(302)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述检测机构(4)包括检测箱(401)，所述检测箱(401)的内壁固定连接有检测仪(402)，所述检测箱(401)的侧面开设有进口(403)，所述检测箱(401)在远离进口(403)的侧面开设有出口(404)。

5.根据权利要求4所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述出口(404)和进口(403)的形状均与限位机构(2)适配，所述检测仪(402)的位置与限位机构(2)适配。

6.根据权利要求2所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述取下机构(5)的数量有两个，两个所述取下机构(5)的位置均与移动槽(301)适配。

7.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述插板(505)的形状与取放槽(202)适配，所述插板(505)的表面设置有防滑涂层。

8.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述工作台(1)的下表面固定连接有支撑腿(8)，所述支撑腿(8)的一端固定连接有防滑垫。