1.一种激光探伤装置，其特征在于，包括：第一激光器，用于产生脉冲激光；

第二激光器，用于产生连续激光；

第一分光件，位于所述第二激光器的出射端，且位于所述第二激光器的轴线上，用于将所述连续激光分解为连续测量激光和连续对比激光；

测量光路调节回路，用于接收所述连续测量激光以及调整所述连续测量激光的光路；

对比光路调节回路，用于接收所述连续对比激光以及调整所述连续对比激光的光路；

探测组件；

其中，所述脉冲激光用于扫描被测物表面用于引起被测物同频振动；所述连续测量激光用于扫描被测物表面，且在叠加被测物的振动后形成连续反射激光，被测物反射所述连续反射激光；所述连续反射激光与所述连续对比激光发生干涉形成干涉激光，所述探测组件用于接收所述干涉激光的光强并转换为电信号。

2.如权利要求1所述的激光探伤装置，其特征在于，所述测量光路调节回路包括：第一光路方向转变件，用于接收所述第一分光件出射的所述连续测量激光以及改变所述连续测量激光的光路；

激光收发件，用于接收以及出射来自第一光路方向转变件的所述连续测量激光，以及接收被测物反射的所述连续反射激光；

1/4波片，位于所述第一光路方向转变件和所述激光收发件之间，用于将所述连续测量激光由线偏振光转换为圆偏振光以及将所述连续反射激光由圆偏振光转换为线偏振光；

其中，通过所述1/4波片的所述连续反射激光可透射所述第一光路方向转换件。

3.如权利要求2所述的激光探伤装置，其特征在于，所述对比光路调节回路包括：第二光路方向转变件，位于所述第一分光件远离所述第二激光器一侧，且位于所述第二激光器的轴线上，用于接收自所述第一分光件出射的所述连续对比激光且改变所述连续对比激光的光路；

声光移频晶体，用于接收第二光路方向转变件出射的所述连续对比激光且将所述连续对比激光的光波频率移频至一固定频率值。

4.如权利要求3所述的激光探伤装置，其特征在于，所述探测组件包括：第二分光件，接收所述声光移频晶体出射的连续对比激光，且将所述连续对比激光分解为两束；且接收来自所述第一光路方向转变件的连续反射激光，且将所述连续反射激光分解为两束，两束所述连续对比激光分别与两束所述连续反射激光发生干涉产生两束干涉激光；

两个感光探测件，分别用于接收两束所述干涉激光的光强并转换为电信号。

5.如权利要求4所述的激光探伤装置，其特征在于，所述感光探测件的可探测的光线的频率最大值小于所述连续测量激光的频率。

6.如权利要求1所述的激光探伤装置，其特征在于，所述连续激光的光路长度、所述连续测量激光的光路长度、所述连续反射激光的光路长度以及长度最长的所述干涉激光的光路长度的总和不大于所述连续激光的相干长度。

7.一种激光探伤方法，其特征在于，包括：应用脉冲激光扫描被测物引起被测物同频振动；

产生连续激光，且将连续激光分解为连续测量激光和连续对比激光；

改变所述连续测量激光的光路，且应用所述连续测量激光扫描被测物表面产生连续反射激光，被测物将自身的振动叠加至所述连续测量激光形成连续反射激光；

接收所述连续反射激光；

改变所述连续对比激光的光路，以使所述连续对比激光与所述连续反射激光发生干涉产生干涉激光；

接收所述探测干涉激光的光强并转换为电信号。

8.如权利要求7所述的激光探伤方法，其特征在于，所述改变所述连续测量激光的光路的步骤包括：

应用所述第一光路方向转变件改变所述连续测量激光的光路方向；

应用所述1/4波片将所述连续测量激光由线偏振光转换为圆偏振光。

9.如权利要求7所述的激光探伤方法，其特征在于，在所述改变所述连续对比激光的光路的步骤之后，还包括：应用声光移频晶体移频连续对比激光的光频至一固定频率。

10.如权利要求7所述的激光探伤方法，其特征在于，所述接收所述连续反射激光的步骤包括：

应用所述激光收发件接收所述连续反射激光；

应用所述1/4波片将所述连续测量激光由线偏振光转换为圆偏振光。