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专利号: 2021111621636
申请人: 浙江同芯祺科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:授权未缴费
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2026-04-06
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,包括以下步骤:S1、在硅载板表面通过CVD沉积SiO2层,然后将碳化硅基板背面与硅载板键合,利用SiO2使碳化硅基板与硅载板形成永久性键合;

S2、完成碳化硅基板的减薄,同时完成除高温制程外的其他晶圆正面制程;

S3、将完成正面晶圆制程的碳化硅基板转移到石墨托盘上,然后将石墨托盘放入蚀池中蚀刻SiO2层,解除碳化硅基板与硅载板的永久键合,移除硅载板后将碳化硅基板冲洗干净;

S4、利用石墨托盘承载碳化硅基板进行高温制程;

S5、将完成高温制程的碳化硅基板取出,碳化硅基板背面涂布黏着剂并键合玻璃载板,移除石墨托盘;

S6、于碳化硅基板正面背面涂布黏着剂并键合玻璃载板,利用激光穿透碳化硅基板背面玻璃载板使释放剂分解,使碳化硅基板背面玻璃载板解键合,移除碳化硅基板背面玻璃载板;

S7、完成碳化硅基板背面晶圆制程;

S8、将碳化硅基板转移到切割模框上,利用激光穿透碳化硅基板正面玻璃载板使释放剂分解,使碳化硅基板正面玻璃载板解键合,移除碳化硅基板正面玻璃载板,完成晶圆的切割。

2.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S1中一次性将多块碳化硅基板与硅载板键合,具体步骤为:S101、将硅载板和碳化硅基板清洗干净,通过电浆对硅基载板表面处理,激发硅基载板原子活性键;

S102、将碳化硅基板水平排列键合在硅基载板表面;

S103、将放置好碳化硅基板的硅载板放入高温炉管中进行高温回火,使碳化硅基板与硅基载板形成永久键合结构。

3.根据权利要求2所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S103中高温回火的温度为800-1400℃,高温炉管的升温速率小于15℃/min。

4.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S3中石墨托盘表面对应碳化硅基板处开设有凹槽,所述凹槽大小与碳化硅基板尺寸契合。

5.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S3中利用蚀刻液对SiO2和Si的蚀刻选择比不同,蚀刻除去SiO2层。