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专利号: 2021104437987
申请人: 厦门理工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 其他类目不包含的电技术
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:提供一卷对卷生产装置,卷带包括依次相连接的第一牵引带(L1)、电路板带(L2),以及第二牵引带(L3);

S2:驱动所述卷带向前活动,让所述电路板带(L2)经过清洁槽(1),以对所述电路板带(L2)进行清洁;

S3:驱动所述卷带向前活动,让所述电路板带(L2)经过整孔槽(2),以对所述电路板带(L2)进行整孔;

S4:对整孔之后的所述电路板带(L2)进行冷风吹干;

S5:驱动所述卷带向前活动,让冷风吹干后的所述电路板带(L2)经过黑影槽(3),以对所述电路板带(L2)进行黑孔形成石墨层;

S6:对黑影之后的所述电路板带(L2)进行热风吹干;

S7:驱动所述卷带向前活动,让所述电路板带(L2)经过定影槽(4),以对所述电路板带(L2)进行定影。

S8:对经过所述黑影槽(3)后的所述第一牵引带(L1)和所述第二牵引带(L3)进行抛光,以去除所述第一牵引带(L1)和所述第二牵引带(L3)表面的石墨层;

S9:驱动所述卷带向前活动,让黑影之后的所述电路板分别经过微蚀槽(7)、酸洗槽(8)、电镀槽(10),以及抗氧化槽(12)。

2.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,在上述步骤中,可以多次重复S5和S6,以便对所述电路板进行多次黑影。

3.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,在上述步骤S7中,分多次对所述第一牵引带(L1)和所述第二牵引带(L3)进行抛光。

4.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,所述第一牵引带(L1)和所述第二牵引带(L3)的材质为PEEK。

5.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,在步骤S3中,所述整孔槽(2)的整孔剂为MN‑715A,该整孔剂的浓度为5%~7%、温度为60~66℃,整孔的时间为

2~3min。

6.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,在步骤S5中,所述石墨层的厚度为0.5~1um;所述黑影槽(3)中的黑孔剂其粉末石墨的最大粒径不超过0.3um,所述黑孔剂的温度为25~32℃,黑孔的时间为3~5min。

7.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,所述卷对卷生产装置包括用以搅拌所述黑影槽(3)中的黑孔剂的搅拌装置。

8.根据权利要求7所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,所述搅拌装置位超声波搅拌装置。

9.根据权利要求1所述的一种卷对卷铜箔黑影方法,其特征在于,在上述步骤S8中,用以对所述第一牵引带(L1)和所述第二牵引带(L3)进行抛光的装置为布轮抛光装置。