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专利号: 2020212480299
申请人: 梁雁华
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种电子元件测试用的调节装置,包括底板(1),其特征在于,所述底板(1)的上表面对称开设有第一滑槽,所述第一滑槽的内腔中滑动连接有第一滑块,所述第一滑块的顶部固定连接有支撑板(2),支撑板(2)的两边侧均开设有第二滑槽,所述第二滑槽的内腔中滑动连接有第二滑块(4),所述第二滑块(4)之间固定连接有固定架(3),所述支撑板(2)上表面的一侧固定连接有支架(7),所述支架(7)的中部活动穿插连接有限位杆(8),所述限位杆(8)的外壁上固定连接有第一固定块,所述支架(7)的一侧固定连接有第二固定块,所述第一固定块和第二固定块之间设置有液压杆(9),所述支撑板(2)上开设有空腔(5),所述空腔(5)的两边侧内壁上等距间隔开设有多个散热槽(6)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用的调节装置,其特征在于,所述底板(1)上表面的两侧均固定连接有竖板(10),所述竖板(10)的顶部固定连接有顶箱(11)。

3.根据权利要求2所述的一种电子元件测试用的调节装置,其特征在于,所述顶箱(11)内腔的底部固定连接有伺服电机(12),所述伺服电机(12)的输出端传动连接有主轴,所述主轴的一端固定连接有丝杆(13),所述丝杆(13)的一端固定连接有轴承,所述轴承与顶箱(11)的一侧转动穿插连接。

4.根据权利要求3所述的一种电子元件测试用的调节装置,其特征在于,所述丝杆(13)的外壁上活动穿插连接有第三滑块(14),所述第三滑块(14)的底部固定连接有连接块(15),所述顶箱(11)的底部对称开设有与连接块(15)相配合的第三滑槽,所述连接块(15)的底部固定连接有检测装置(16)。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用的调节装置,其特征在于,所述底板(1)上表面的一侧固定连接有长轴,所述长轴的外壁上活动穿插连接有观察架(18),所述观察架(18)上活动穿插连接有锁紧螺栓。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用的调节装置,其特征在于,所述支撑板(2)正面的一侧固定连接有把手(19),所述底板(1)的另一侧固定连接有数据处理装置(17)。