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专利号: 2020212001519
申请人: 武汉铢寸科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2026-04-02
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,包括内设容置腔的壳体和光纤调节装置,所述壳体上设有窗口,并在所述壳体上装设有转轴,所述转轴上装设有调节盘,所述壳体上装设有伺服电机,所述伺服电机外接调节轮,所述调节轮与所述调节盘啮合,所述调节盘上设有多个调焦组,所述调焦组与所述窗口间歇式相对设置,且所述光纤调节装置与所述调焦组相对设置,所述壳体外设有孔径光阑和激光功率探头,所述孔径光阑与所述窗口正对设置,且所述激光功率探头设置在所述调焦组的输出端用于检测通过所述调焦组的激光束的功率。

2.如权利要求1所述的一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,所述伺服电机固定在所述壳体的侧边,所述调节轮为齿轮,所述调节盘外圆面上设有与所述调节轮适配的卡齿。

3.如权利要求1所述的一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,所述调节盘上设有四个调焦组,且四个所述调焦组的焦距各不相同。

4.如权利要求1所述的一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,所述调焦组为凸面朝向像所述孔径光阑的弯月形正透镜,且四个所述调焦组的弯月形正透镜弯曲弧度各不相同。

5.如权利要求1所述的一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,所述光纤调节装置包括底座、支撑板和夹具;所述底座的上端面与所述支撑板连接,所述支撑板的上表面固定安装所述夹具。

6.如权利要求1所述的一种小光斑的光束质量测量分析系统,其特征在于,光纤的中心线、孔径光阑中心线以及激光功率探头的中心线在一条直线上。