1.一种电子开关测试装置，其特征在于，所述装置包括：与待测开关连接的控制单元，用于控制所述待测开关的导通和断开状态；

与电源连接的待测开关；

与所述待测开关串联的负载模拟单元，用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；

与所述负载模拟单元并联的计数单元；以及，

与所述负载模拟单元和计数单元电连接且与所述控制单元连接的冲击电流检测单元，用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令；

其中，所述负载模拟单元包括：

纯阻性负载，用于模拟容性负载的输出负载；以及，与所述纯阻性负载并联的电容，所述电容用于在所述待测开关与所述电源导通时产生所述冲击电流。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述纯阻性负载的电阻值根据所述容性负载的额定功率以及所述负载模拟单元的端电压确定。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述计数单元用于在每检测到一次所述冲击电流时，将当前计数值累加1；以及，当所述计数单元在所述待测开关导通后的第一预设时间段内未检测到电流时，保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述冲击电流检测单元还用于在所述待测开关导通后的第二预设时间段内多次判断所述负载模拟单元产生的电流是否为所述冲击电流，若在所述第二预设时间段内每次判断结果均为否，则向所述控制单元发送所述停止测试指令，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：整流单元，用于将所述电源输出的交流电压转变成正半轴电压。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，对于接入的任一待测开关，所述计数单元还用于在开始测试所述待测开关之前，接收置零指令，并根据所述置零指令清除所述计数单元中的历史计数数据。

7.一种检测开关寿命的方法，其特征在于，应用于权利要求1‑6任意一项所述的电子开关测试装置，所述方法包括：通过控制单元控制电源的开启或关闭；

在电源开启时，通过所述控制单元控制待测开关处于导通状态；

通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流；

若存在，则触发计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元与电源的导通次数；

若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述计数单元，在所述待测开关导通后的第一预设时间段内，判断是否存在电流；

若判断结果为否，则所述计数单元保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流，包括：通过所述冲击电流检测单元，在所述待测开关导通后的第二预设时间段内，多次判断检测到的电流是否是冲击电流；

若每次判断结果均为否，则确定没有产生所述冲击电流，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段；

若任一判断结果为是，则确定产生了所述冲击电流。