1.一种单颗磁性磨粒磁场力测量方法，

其特征在于，所用装置包括工作台、永磁极、磁极夹持机构、三轴移动机构、磨粒存储器、磁性磨粒及电子天平；所述三轴移动机构设于电子天平上且能沿X、Y、Z三轴移动，工作台固定在电子天平上，测量时磁极夹持机构将永磁极夹持固定在工作台上；磁性磨粒放置在磨粒存储器内，磨粒存储器固定在三轴移动机构上，磨粒存储器位于永磁极的上方，通过三轴移动机构调节磁性磨粒与永磁极间的间隙；

所述工作台设有T型槽，磁极夹持机构安装在T型槽上，能够沿T型槽横向移动；

所述磁极夹持机构包括三角规与定向键，定向键与工作台的T型槽配合滑动连接，定向键与三角规通过螺栓连接，在测量时通过螺母与螺栓把三角规固定在工作台上；

所述三轴移动机构包括X轴滑台机构、Y轴滑台机构与Z轴滑台机构；X轴滑台机构安装在电子天平上，X轴滑台机构能沿X轴移动，Y轴滑台机构安装在X轴滑台机构上，Y轴滑台机构能沿Y轴移动，Z轴滑台机构安装在Y轴滑台机构上，Z轴滑台机构能沿Z轴移动；

所述X轴滑台机构包括X轴滑台千分尺、X轴滑台千分尺支座、X轴滑台底座、X轴滑台导轨、X轴滑台锁紧螺丝及中间连接板；中间连接板与X轴滑台底座之间通过X轴滑台导轨配合滑动连接，X轴滑台千分尺位于X轴滑台千分尺支座上并固定于X轴滑台底座的一侧，X轴滑台锁紧螺丝位于与X轴滑台千分尺所对应的X轴滑台底座另一侧；

所述Y轴滑台机构包括Y轴滑台千分尺、Y轴滑台千分尺支座、Y轴滑台工作台面、Y轴滑台导轨及Y轴滑台锁紧螺丝；Y轴滑台工作台面与中间连接板之间通过Y轴滑台导轨配合滑动连接，Y轴滑台千分尺位于Y轴滑台千分尺支座上并固定于中间连接板的一侧，Y轴滑台锁紧螺丝位于与Y轴滑台千分尺所对应的中间连接板另一侧；

所述Z轴滑台机构包括Z轴滑台千分尺、Z轴滑台千分尺支座、Z轴滑台底座、Z轴滑台工作台面、Z轴滑台导轨、Z轴滑台锁紧螺丝及Z轴滑台支架；Z轴滑台支架的底部通过螺栓固定在Y轴滑台工作台面上，Z轴滑台底座通过螺栓固定在Z轴滑台支架的上部，Z轴滑台工作台面与Z轴滑台底座之间通过Z轴滑台导轨配合滑动连接，Z轴滑台千分尺位于Z轴滑台千分尺支座上并固定于Z轴滑台底座的一侧，Z轴滑台锁紧螺丝位于与Z轴滑台千分尺所对应的Z轴滑台底座另一侧；

还包括连接杆与连接块；磨粒存储器与连接杆底部相连接，连接杆的顶部通过螺栓固定在连接块中间的凹槽内，连接块通过螺栓固定在三轴移动机构上；

所述磨粒存储器为球形，包括上壳体与下壳体，上壳体与下壳体通过螺纹连接，可拆卸；

所述电子天平采用精密电子天平，精确到0.001克；

具体包括如下步骤：

1)启动电子天平并置零；

2)永磁极为扁圆柱形，将永磁极放在工作台上并通过磁极夹持机构进行固定，调整磨粒存储器的水平位置，使其位于永磁极的正上方10mm处，测得永磁极的质量m0；

3)将磁性磨粒填满磨粒存储器，当电子天平稳定后记下示数m1，则磨粒存储器中所有磁性磨粒所受的磁场力为：Fm1＝Δm • g＝(m0‑m1) • g   (1)2

公式(1)中，g为重力加速度，单位：m/s；

设单颗磁性磨粒的粒径为d1，球形磨粒存储器的直径为d2；

单颗磁性磨粒与球形磨粒存储器体积比为：

公式(2)中，d1为单颗磁性磨粒的粒径，d2为球形磨粒存储器的直径，单位：mm；

单颗磁性磨粒所受的磁场力为：

F1＝kFm1   (3)

公式(3)中，k为单颗磁性磨粒与球形磨粒存储器体积比例系数，Fm1为球形磨粒存储器中所有磁性磨粒所受的磁场力，单位：N；

通过公式(3)计算出单颗磁性磨粒在磁场中所受的磁场力；

4)逆时针转动Z轴滑台千分尺一周，使得磨粒存储器与永磁极的间隙减少0.5mm，当电子天平稳定后记下示数m2，磨粒存储器中所有磁性磨粒所受的磁场力为：Fm2＝Δm • g＝(m0‑m2) • g   (4)2

公式(4)中，g为重力加速度，单位：m/s；

单颗磁性磨粒所受的磁场力为：

F2＝kFm2   (5)

公式(5)中，k为单颗磁性磨粒与球形磨粒存储器体积比例系数，Fm2为间隙9.5mm时磨粒存储器中所有磁性磨粒所受的磁场力，单位：N；

依次调整磨粒存储器与永磁极间的间隙，每次Z轴滑台千分尺逆时针旋转一周，间隙距离减少0.5mm，直至调整到磨粒存储器与永磁极相接触，间隙为0，总计旋转20次，距离为

10mm；

重复测量20次，得出20组磁性磨粒在Z轴方向上不同间隙的磁场力F1‑F20，即可得到一条磁场力关于测量间隙变化的曲线，建立磁性磨粒受到的磁场力大小与磁性磨粒位置的函数关系。