1.超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。而现有的大部分超声波测厚仪在测量时会因为测量的角度和一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,包括测厚仪本体(1),其特征在于:所述测厚仪本体(1)顶端两侧均固定安装有活动座(2),所述活动座(2)的另一端活动安装有安装板(3),所述安装板(3)的底端固定安装有定位板(4),所述定位板(4)的两端均固定安装有刮板(5),所述安装板(3)的中部外侧固定安装有活动座(6),所述活动座(6)的内部活动安装有螺纹柱(7),所述螺纹柱(7)的前后两侧表面均活动安装有安装座(8),所述螺纹柱(7)的前后两端均固定安装有限位板(9),所述安装座(8)靠近安装板(3)的一侧固定安装有固定板(10),所述固定板(10)的另一端固定安装有缓冲垫(11);
所述测厚仪本体(1)顶端两侧均固定安装有活动柱(12),所述活动柱(12)与活动座(2)活动连接,所述活动柱(12)的另一端固定安装有限制板(13),所述安装座(8)的表面活动安装有限制柱(14),所述限制柱(14)贯穿安装座(8)的一侧壁并延伸至安装座(8)的另一侧,所述限制柱(14)位于安装座(8)上下两侧部分表面固定安装有限制块(15),所述安装板(3)的顶端之间固定安装有握把(16),所述握把(16)的表面设置有防滑纹(17),所述安装板(3)的底端前后两侧均固定安装有稳定板(18),所述稳定板(18)远离安装板(3)的一侧中部固定安装有支撑座(19),所述支撑座(19)的另一侧底端固定安装有支撑柱(20),所述支撑柱(20)的底端固定安装有支撑板(21),所述支撑板(21)的另一端固定安装有吸附垫(22)。
2.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述活动座(2)的内部开设有活动孔(23),且活动孔(23)的横截面积与活动柱(12)的横截面积一致,且限制板(13)设置于活动座(2)的外侧。
3.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述安装板(3)与限制柱(14)对应处开设有限制孔(24),且限制孔(24)的横截面积与限制柱(14)的横截面积一致,限制孔(24)与限制柱(14)活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述安装板(3)与活动座(2)接触处开设有安装槽(25),且安装槽(25)与活动座(2)卡接,安装槽(25)的长度长于活动座(2)的长度。
5.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述活动座(2)的上下两端均固定安装有卡块(26),且卡块(26)的另一端与安装板(3)卡接。
6.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述稳定板(18)设置于安装板(3)的前后两侧,且稳定板(18)在水平方向上位于定位板(4)的上方。
7.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述支撑座(19)对称分布于安装板(3)的正面与背面侧,且支撑板(21)与定位板(4)位于同一水平面上。
8.根据权利要求1所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述测厚仪本体(1)的底端设置有伸缩座(27),所述伸缩座(27)的两端均固定安装有伸缩卡板(28)。
9.根据权利要求8所述的一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪,其特征在于:所述伸缩卡板(28)远离伸缩座(27)一端与安装板(3)的中部部分横截面积一致,且伸缩卡板(28)的长度略大于安装板(3)之间距离的二分之一。