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专利号: 2019109899167
申请人: 郑州航空工业管理学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 控制;调节
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:样本数据的分析与建模;设定产品的p维质量特性值Xt不独立,具有自相关性,并且服从平稳q阶向量自回归VAR(q)模型;

S2:平稳性检验;经检验,若不存在单位根,则序列平稳,若存在单位根,则序列不平稳;

S3:确定模型阶数;根据AIC准侧和SC准则进行模型的定阶,比较AIC统计量和SC统计量,使AIC统计量和SC统计量最小的阶数即为模型阶数;

S4:模型参数估计;采用最小二乘估计法估计模型中的参数;

S5:计算控制图的统计量{Yt};根据上述模型得到满足独立性的白噪声序列{εt},从而计算出控制图的统计量{Yt};

S6:控制图的可变抽样区间设计;包括基于给定的虚发报警概率α以及所监控质量特性的维数来求得控制图的控制限、设定控制图的警戒限和样本容量、设置可变抽样区间h1和h2,且h1>h2>0;

S7:控制图的监控;若样本点落在安全域,则下一个抽样区间为h1,若样本点落在警戒域,则下一个抽样区间为h2,若样本点超出控制限,则控制图报警;

S8:ATS的蒙特卡洛算法;

S9:VSI残差T2控制图与FSI残差T2控制图的比较。

2.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S4中,经过模型参数估计可以得到q阶向量自回归VAR(q)模型:其中,φ0=(φ10,φ20,φ30...φp0)'是截距项向量,Ai表示p×p维的自相关系数矩阵,εt=(ε1t,ε2t,...,εpt)/为均值为0的白噪声序列;

对模型和参数进行有效性检验,若结果显著,说明模型以及参数是有效的;

对于平稳过程VAR(q),Xt的均值向量μ=(μ1,μ2,...,μp)/和自相关系数矩阵Ai都不依赖于时间t;

εt=(ε1t,ε2t,...,εpt)/                        (2)为均值为0的白噪声序列。

3.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S5中,令Yt=εt,对于VAR(q)的多变量自相关过程,残差T2控制图的统计量为:Tt2=Yt/∑-1Yt,t=1,2,3,...                  (3)假设在T0时刻,过程均值发生拨动,Xt的均值向量由μ转变成μ+∑Δ,其中∑为序列{Yt}的协方差,Δ为p维的均值向量偏移,则当t>T0时,{Yt}改变为:

2

t>T0时,Tt值改变为:

过程均值发偏移后的T2值服从新的卡方分布,记为

该分布于过程均值未发生偏移时T2值的卡方分布的区别在于分布参数λ。

4.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S6中,对于给定的虚发警报概率α,上控制限UCL为:其中, 是自由度为p的χ2分布的分位点。

5.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S7中控制图的受控区域被分为安全域与警戒域两部分,区间I1=[0,UWL]为安全域,I2=[UWL,UCL]为警戒域,选取两个抽样区间长度h1和h2,且h1>h2>0,若样本点落在安全域,则下一个抽样区间为h1,若样本点落在警戒域,则下一个抽样区间为h2,若样本点超出控制限,则控制图报警。

6.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S9中比较两种控制图在受控时平均报警时间ATS相同的情况下,过程失控时,这两种控制图的ATS的大小。

7.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S8中,对于给定的上控制限H和上警戒限W,运用蒙特卡洛模拟方法计算平均报警时间ATS。