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专利号: 2019107147423
申请人: 北京工商大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-04-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于阈值回归的纤维材料孔隙率分析方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、对所有样品拍摄SEM图像,并对图像进行平滑处理,以降低拍摄过程中产生的噪声。

步骤二、将所有样品的SEM图像进行灰度化处理,即将像素的颜色值转换为灰度值。命名SEM图像的灰度化结果为“灰度SEM图像”。

步骤三、对所有样品的灰度SEM图像,获取其平均灰度值,即所有像素点的灰度值的平均值,命名第i个样品的平均灰度值为Ai。

步骤四、对所有样品的灰度SEM图像,使用鼠标点击图像中的N个孔隙位置,计算点击的N个孔隙处的像素的灰度值的平均值,称为孔隙灰度值,命名第i个样品的孔隙灰度值为Bi。

其中,N可在实验过程中进行设置,N的值一般设置为5至10个,N值越大误差越小。

步骤五、对所有样品的灰度SEM图像,使用鼠标点击图像中的M个纤维位置,计算点击的M个纤维处的像素的灰度值的平均值,称为纤维灰度值,命名第i个样品的纤维灰度值为Ci。

其中,M可在实验过程中进行设置,M的值一般设置为5至10个,M值越大误差越小。

步骤六、将所有样品分割为样品集P和样品集Q。将样品集P中的所有样品进行物理实验过程,获得其物理实验孔隙率结果,命名第i个样品的物理实验孔隙率结果为Pi。

步骤七、对样品集P中的每一个样品的灰度SEM图像,根据物理实验孔隙率结果获取其最佳分割阈值,并命名第i个样品的最佳分割阈值为Di。对第i个样品的最佳分割阈值是指,当分割阈值为Di时,通过对灰度SEM图像进行处理计算出的孔隙率值最接近于物理实验孔隙率结果Pi。

步骤八、将样品集P中的样品通过随机采样分为训练集PA和测试集PT。

步骤九、将训练集PA中的样品的Ai组合为向量A,将训练集PA中的样品的Bi组合为向量B,将训练集PA中的样品的Ci组合为向量C,将训练集PA中的样品的Di组合为向量D。

步骤十、以向量A、B、C为自变量,向量D为因变量,建立回归模型。该回归模型的因变量D是最佳分割阈值的组合,命名该模型为阈值回归模型。

步骤十一、使用测试集PA中的样品的数据验证步骤十中建立的阈值回归模型的误差范围,假如误差范围符合要求,则模型建立完成,继续步骤十二;假如不符合要求,则模型建立失败,过程结束。

步骤十二、对样品集Q中的每一个样品,将步骤十中建立的“阈值回归模型”应用于样品的孔隙率计算,具体应用方法为:步骤12.1、以样品集Q中的第i样品的平均灰度值Ai、孔隙灰度值Bi、纤维灰度值Ci作为自变量,通过阈值回归模型计算因变量的值,即第i个样品的最佳分割阈值Di。

步骤12.2、根据最佳分割阈值Di,计算第i个样品的孔隙率值Pi。

至此,样品集Q中的所有样品的孔隙率计算完毕,需确定孔隙率的材料孔隙率全部获取完毕。