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专利号: 2019105026208
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种半导体激光器非线性调频预校正方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤一:测量每个调制周期中干涉信号波形的所有极值点在时间轴上实际位置与理想位置的偏差,确定半导体激光器调频非线性大小;

步骤二:根据此偏差平移激光调制信号波形中时间轴上对应点的位置坐标;

步骤三:根据步骤二提供的坐标,利用分段插值或非线性拟合得到校正后的激光器调制信号波形;

所述半导体激光器驱动信号是由微处理器读取数据表格经过DA电路转换得到,数据表格是由线性插值构成,干涉信号是经过光电探测器转换成电信号再经过AD电路转换得到数字信号。

2.如权利要求1所述的一种半导体激光器非线性调频预校正方法,其特征在于:通过测量每个调制周期中干涉信号波形的极小值点在时间轴上实际位置与理想位置的偏差,来确定半导体激光器调频非线性大小,并以此校正激光器调制信号波形。

3.如权利要求1所述的一种半导体激光器非线性调频预校正方法,其特征在于:通过测量每个调制周期中干涉信号波形的极大值点在时间轴上实际位置与理想位置的偏差,来确定半导体激光器调频非线性大小,并以此校正激光器调制信号波形。