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专利号: 2018111206330
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-02-26
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于非局部二值模式的纹理图像特征提取方法,其步骤为:步骤1,输入待提取特征纹理图像;

步骤2,基于双线性插值法提取像素xc及其P个邻域像素xp;

步骤3,计算不同分辨率下非局部中心像素Cmn;

步骤4,在M个分辨率级别下,对各像素点进行非局部二值编码;

步骤5,对各分辨率级别下对不同非局部中心像素Cmn所产生的NL_BPmn码值进行直方图统计,并将同一分辨率级别下所产生的非局部直方图级联构成该分辨率级别下的直方图表达;

步骤6,将各分辨率级别产生的直方图级联,构成多分辨率特征直方图。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤3中所述的计算不同分辨率下非局部中心像素Cmn;通过对图像中心像素集Xc中的xc进行排序,即:Xc=sort(Xc);然后按分辨率级别m将排序后的Xc进行等像素个数分成m段并求每段的均值作为非局部中心像素Cmn。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤4中所述的在M个分辨率下,对各像素点进行非局部二值编码,即:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤5,6中所述的将不同分辨率下由各非局部中心像素Cmn产生的NL_BPmn码值进行统计并构成非局部特征直方图;最终将M个分辨率级别下的非局部特征直方图进行级联,构成多分辨率的非局部特征直方图。