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专利号: 2018104796992
申请人: 温州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-08-24
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于:

(1)建立多谱线内定标校准曲线,对待测对象取样进行激光诱导击穿光谱检测,并在激光诱导击穿光谱图中选择并计算多条的分析谱线强度之和与多条内标谱线强度之和的比值,作为第一坐标,其具体为:在数据处理过程中,选择多条分析元素谱线和多条内标元素谱线,并计算其强度和的比值: 其中p为分析元素谱线强度,q为内标元素谱线强度;以分析元素的浓度值作为第二坐标,建立多谱线内定标校准曲线;

(2)根据步骤(1)建立的多谱线内定标校准曲线,对待测对象的未知浓度的分析元素进行定量分析和检测元素成分的分析。

2.根据权利要求1所述的一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于:所述的待测对象为铅黄铜,其中,多条分析元素谱线为不同波长的Pb的谱线强度校准曲线,多条内标元素谱线为不同波长的Cu的谱线强度校准曲线。

3.根据权利要求2所述的一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于:所述的不同波长的Pb的谱线强度校准曲线的波长选择为:261.42nm、

280.20nm、283.31nm、368.35nm、405.78nm、424.49nm、504.26nm中的两种或多种。

4.根据权利要求2或3所述的一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于:所述的不同波长的Cu的谱线强度校准曲线的波长选择为:324.75nm、

327.40nm、510.55nm、515.32nm、521.82nm中的两种或多种。

5.根据权利要求1所述的一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于第一坐标为纵坐标,第二坐标为横坐标。