1.一种可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，包括用于向待测器件施加压力/剪力的施力装置，用于为待测器件提供可控磁场的磁场发生装置，以及用于实时采集并存储施加在待测器件上的压力信息、磁场强度及其自身的电阻信息的信号采集装置，以及用于根据采集到的所述压力信息、磁场强度和电阻信息计算得到待测器件在不同磁场下的压阻/剪阻信息。

2.根据权利要求1所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述磁场发生装置包括底座、设置在所述底座上的套筒以及设置在所述套筒顶部的顶盖；所述底座的中部设有凸台，所述凸台与所述套筒之间设有励磁线圈，待测器件设置在凸台的顶部。

3.根据权利要求2所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述顶盖与套筒之间设有5～10mm的间隙。

4.根据权利要求3所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述待测器件的上下两侧分别设有一铁片。

5.根据权利要求1所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述施力装置包括设置在所述磁场发生装置上方的模组，设置在所述模组上的夹具，以及用于调节模组上的夹具的运动轨迹的横轴步进电机和纵轴步进电机；所述夹具上设有向待测器件直接施力的压杆。

6.根据权利要求5所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述夹具的底壁和侧壁上均设有条形孔；所述压杆通过紧固件固定在夹具的底壁上的条形孔内用于对待测器件施加压力，通过紧固件固定在夹具的侧壁上的条形孔内用于对待测器件施加剪力。

7.根据权利要求1所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述信号采集装置包括设置在所述顶盖内用于测量施加在待测器件上磁场强度的磁敏传感器，设置在所述压杆与夹具之间用于测量施加在待测器件上的压力信息的压力传感器，以及与所述待测器件电连接用于测量待测器件自身的电阻信息的电桥电路。

8.根据权利要求7所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括处理器，所述处理器的输入端与磁敏传感器连接，处理器的输出端通过驱动电路与励磁线圈连接，所述磁敏传感器连接在所述处理器的输入端，并和励磁线圈所产生的磁场形成闭环负反馈控制系统。

9.根据权利要求8所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，所述处理器通过PWM控制器控制励磁线圈上的电流。

10.根据权利要求9所述的可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括与所述处理器连接的无线模块，可以实时传递信息给上位机，进而在上位机上进行数据的存储于数据分析。