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专利号: 2017111211207
申请人: 奥菲(泰州)光电传感技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-05-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种气体折射率的测量装置,其特征在于,包括宽谱光源(101)、电光调制器(105)和计算器(202),宽谱光源(101)输出端连接第一光纤耦合器(102),第一光纤耦合器(102)的一个输出端与气体测量池(103)连接,气体测量池(103)的输出光和第一光纤耦合器(102)的输出光经过第二光纤耦合器(104)合束,第一光纤耦合器(102)、气体测量池(103)和第二光纤耦合器(104)构成一个马赫曾德干涉仪,马赫曾德干涉仪的输出端连接电光调制器(105),电光调制器(105)输出的调制信号经过色散光纤(106)后入射到高速光电探测器(107)上,高速光电探测器(107)将光信号装换成微波信号并通过低噪放(108)放大,低噪放(108)输出端连接微波功分器(109),微波功分器(109)将一部分微波信号注入到电光调制器(105)中,同时将另一部分微波信号输入频谱仪(201),频谱仪(201)末端连接计算机(202)。

2.根据权利要求1所述的一种气体折射率的测量装置,其特征在于,电光调制器(105)、色散光纤(106)、高速光电探测器(107)、低噪放(108)和微波功分器(109)组成光电振荡器环路,且光电振荡器环路输入端与马赫曾德干涉仪的输出端相连接。

3.根据权利要求1所述的一种气体折射率的测量装置,其特征在于,气体测量池(103)包括左自聚焦透镜(301)、右自聚焦透镜(302)和进气阀(303),两个自聚焦透镜之间的距离为d,且各器件都密封安装在气体测量池的铝外壳(304)中。

4.根据权利要求1所述的一种气体折射率的测量装置,其特征在于,宽谱光源(101)可采用高斯型或矩形光源作为发射光源。