1.一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试系统的切换方法，包括计算机(1)、综合测试仪(2)、频谱仪(3)、通讯天线(4)和喇叭天线(5)，其特征是：在计算机(1)与综合测试仪(2)、频谱仪(3)、通讯天线(4)和喇叭天线(5)之间设有微波集成切换开关(6)，所述微波集成切换开关(6)包括以下部件：

一个天线极化A开关(7)，且所述天线极化A开关(7)上设有四个射频端口；

一个微波切换B开关(8)，且所述微波切换B开关(8)上设有四个射频端口；

一个综合测试仪接口切换C开关(9)，且所述综合测试仪接口切换C开关(9)上设有三个射频端口；

一个控制器(10)，且所述控制器(10)是能够发出高低逻辑组合电平来控制天线极化A开关(7)、微波切换B开关(8)、综合测试仪接口切换C开关(9)后，达到OTA测试系统与辐射谐波测试系统进行切换的控制器(10)；其中，所述天线极化A开关(7)的A1射频端口(7‑1)通过同轴线缆与综合测试仪接口切换C开关(9)上的C1射频端口(9‑1)连接，天线极化A开关(7)的A2射频端口(7‑2)和A3射频端口(7‑3)均与喇叭天线(5)连接，天线极化A开关(7)的A4射频端口(7‑4)通过同轴线缆与微波切换B开关(8)上的B2射频端口(8‑2)连接，所述微波切换B开关(8)的B4射频端口(8‑4)与频谱仪(3)连接，所述综合测试仪接口切换C开关(9)上的C2射频端口(9‑2)与综合测试仪(2)连接，所述综合测试仪接口切换C开关(9)上的C3射频端口(9‑3)与通讯天线(4)连接，且所述控制器(10)分别与天线极化A开关(7)、微波切换B开关(8)和综合测试仪接口切换C开关(9)控制连接，所述微波切换B开关(8)的B4射频端口(8‑4)通过低噪声放大器(11)与频谱仪(3)连接，其特征是：具体包括以下两个切换过程：一、OTA测试系统的切换过程如下：

S11、由计算机(1)发出OTA测试指令，并传输给控制器(10)；

S12、此时控制器(10)判断为OTA测试指令，并向综合测试仪接口切换C开关(9)发出高电平1的指令，综合测试仪接口切换C开关(9)上的C2射频端口(9‑2)立即连接到C1射频端口(9‑1)，此时由于C1射频端口(9‑1)与A1射频端口(7‑1)相连；控制器(10)也向天线极化A开关(7)发出高电平1并切换到A1射频端口(7‑1)，而A2射频端口(7‑2)、A3射频端口分别作为垂直极化和水平极化端口进行OTA测试；

二、辐射谐波测试系统的切换过程如下：

S21、计算机(1)发出辐射谐波测试指令，传输到控制器(10)；

S22、控制器(10)向综合测试仪接口切换C开关(9)发出低电平0，使得C3射频端口(9‑3)连接到C2射频端口(9‑2)；控制器(10)向天线极化A开关(7)发出低电平0，切换到天线极化A开关(7)的A4射频端口(7‑4)，A4射频端口(7‑4)与微波切换B开关(8)相连；控制器(10)向微波切换B开关(8)发出控制指令，驱使微波切换B开关(8)上的B4射频端口(8‑4)与对应的微波切换B开关(8)内的B1射频端口(8‑1)或B2射频端口(8‑2)或B3射频端口(8‑3)导通，实现低频高通滤波或中频高通滤波或高频高通滤波后，通过频谱仪(3)进行辐射谐波测试。

2.根据权利要求1所述的带微波集成切换开关的辐射谐波测试系统的切换方法，其特征是：在步骤S22中，控制器(10)向微波切换B开关(8)发出控制指令具体为：发送00指令代表选择低频高通滤波器，使B1射频端口(8‑1)与B4射频端口(8‑4)相连，发送01指令代表选择中频高通滤波器，使B2射频端口(8‑2)与B4射频端口(8‑4)相连，发送11指令代表选择高频高通滤波器，使B3射频端口(8‑3)与B4射频端口(8‑4)相连。