1.芯片检测装置，其特征在于，包括

传送机构，所述传送机构用于运送测试芯片，传送机构包括传送带组件；

清洗换液机构，所述清洗换液机构用于朝向所述传送机构上的测试芯片加注或吸取测试液；

测试反应装置，所述传送机构穿过所述测试反应装置，所述测试反应装置包括盖体、恒温板和加热装置，所述盖体盖合在所述恒温板的上方，所述恒温板在朝向所述盖体的端面上设置有液体槽，所述盖体和所述液体槽之间形成反应腔室，所述盖体在朝向所述恒温板的端面上设置有多个并排设置的凹槽，多个所述凹槽均沿所述恒温板的延伸方向布置，所述传送带组件穿过所述反应腔室，所述加热装置用于对所述反应腔室加热；

所述清洗换液机构包括升降组件、注液组件、吸液组件和芯片位，所述芯片位用于放置测试芯片，所述升降组件包括驱动电机、偏心轮、编码器、第一滑块和第一滑轨，所述编码器与所述驱动电机连接，所述驱动电机驱动所述偏心轮绕所述驱动电机的输出轴沿周向移动，所述第一滑块设置有腰圆孔，所述偏心轮与所述腰圆孔配合，所述第一滑块与所述第一滑轨配合并可沿所述第一滑轨滑动；

所述吸液组件包括三个第一导管，三个所述第一导管与泵连接，三个所述第一导管设置在所述第一滑块上；

所述注液组件包括支架、三个第二导管和三个第三导管，三个所述第二导管与泵连接，所述第二导管与水平面之间呈加注倾角设置，所述加注倾角呈锐角设置，三个所述第三导管设置在所述第一滑块上；

所述清洗换液机构还包括设置在所述第三导管两侧的分离片，所述分离片呈长条状设置，所述分离片在靠近所述支架的端部上设置有倾斜的引导面，两个所述分离片可对测试芯片在竖直方向起限位作用。

2.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：

所述传送机构包括多个传送带组件；

多个所述传送带组件呈并排设置，所述传送带组件上设置有芯片放置位，所述传送带组件穿过所述测试反应装置。

3.根据权利要求2所述的芯片检测装置，其特征在于：

所述传送机构还包括转移组件，所述转移组件连接在两个所述传送带组件之间；

所述转移组件包括电机单元和第二滑块，所述电机单元带动所述第二滑块在两个所述传送带组件之间滑动。

4.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：

所述清洗换液机构包括吹气组件，所述吹气组件包括第二滑轨、第三滑块、电机单元、气体通道和气泵接口，所述气泵接口和所述气体通道连接，所述气体通道设置在所述第三滑块上，所述电机单元驱动所述第三滑块沿所述第二滑轨滑动，所述气体通道的出气口用于向所述传送机构上的测试芯片吹气。

5.芯片检测装置的控制方法，其特征在于，所述芯片检测装置采用上述权利要求1至4任一项所述的芯片检测装置；

所述控制方法包括：

所述清洗换液机构向所述传送机构上的测试芯片加注测试液；

所述传送机构带动所述测试芯片穿过所述测试反应装置；

所述清洗换液机构向所述传送机构上的测试芯片吸取测试液。