1.一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将各类继电器型号数据录入系统，并获得各类继电器触点间距的经验数据，据此建立各类待检测的继电器触点形状、触点间距理想值的相应数据库；2)构造X射线检测系统，将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集，得到去除噪声的边缘细节采集图像；3)根据步骤1)中数据库中先验触点的间距信息，设置滑动窗口大小为kdidea；其中didea为先验触点的间距，k为正整数；4)以k/2的大小移动所述滑动窗口；定义归一化互信息为其中F为待配准的边缘细节采集图像，R为对应的参考图像，H(F,R)为联合熵；H(F)和H(R)分别为待配准的边缘细节采集图像、参考图像的边缘熵；当联合熵达到最优值时，完成图像配准，获得在测继电器的触点间距信息。2.根据权利要求1所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，k＝10。3.根据权利要求1所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，log为以2为底的对数；pF(i)和

pR(j)分别为待配准的边缘细节采集图像灰度值的边缘概率分布、参考图像灰度值的边缘概率分布；i和j分别表示待配准的边缘细节采集图像和对应的参考图像的灰度值。4.根据权利要求2所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，PFR(i ,j)为待配准的边缘细节采集图像灰度值和对

应的参考图像灰度值的联合概率分布；HIS表示联合直方图。5.根据权利要求3所述的测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，